布局与长远规划。破局:顺势挺进制造业“金字塔”在半导体芯片制造的复杂流程中,精密温度控制技术是确保芯片良率与性能的关键因素。从光刻、刻蚀、薄膜沉积等前道工艺,到固晶、塑封、测试等后道环节,几乎每个环节
技术鉴定,于2022年5月9日出具《火灾事故认定书》(经消火认字〔2022〕第0002号),认定起火部位系101厂房刻蚀净化区一级洗涤塔南塔西南侧下部;起火原因系一级洗涤塔南塔西南侧下部电伴热带电气故障
侯毅等人提出了一种基于羟基化刻蚀的解决方案,可在15秒内实现氧化铟锡(ITO)的完全羟基化,并暴露丰富的未配位铟离子作为SAM的新键合位点。通过形成配位键,SAM的锚定稳定性大幅提升。此外,该方法还能
羟基化刻蚀技术:仅需15秒即可实现ITO表面的完全羟基化,显著简化传统多步预处理流程,大幅提升制备效率。多重键合增强稳定性:通过羟基化刻蚀暴露未配位铟离子,形成三齿配位键,使SAM锚定更均匀、更稳
以非离子化状态吸附于钙钛矿表面,避免传统溶剂(IPA)中因离子化导致的过度刻蚀。AR-XPS 显示,FIPA-CP 模式下 PEAI 的 C-N/FA N 比率显著低于 IPA-CP,表明
60 分钟,使用前经 0.22 μm
聚四氟乙烯(PTFE)滤膜过滤。基于一步法的正式器件制备将刻蚀后的 ITO 玻璃依次在洗涤剂、去离子水和乙醇中超声清洗。ITO 衬底经紫外臭氧(UVO)处理
,制备空穴传输层。最后,通过热蒸发在所得钙钛矿太阳能电池(PSCs)上沉积 100 nm 银电极。倒置器件制备首先,通过激光刻蚀技术对 ITO 衬底进行刻蚀。然后,将 ITO 衬底依次在洗涤剂溶液
P1、P2和P3互连,将面积为641.4 cm 2的组件串联起来。采用1064 nm激光刻蚀三道划片,GFF为97.88%。P1工艺完成后,清洗衬底,磁控溅射沉积NiOx层。通过对P1工艺的分析
)基底,其溶液制备和退火过程与小面积光伏器件一致。可拉伸模组使用沉积的聚对二甲苯膜作为基底,并采用PH1000作为透明电极,其余制备过程与柔性模块相同。激光刻蚀具体如下:1. P1(200 mm/s
PNDIT-F3N(含有不同比例的PIL-PDES);3. P2刻蚀(600 mm/s,100 kHz,10 us);4. 沉积75 nm Ag;P3(300 mm/s,100 kHz,10 us)和P4
角度360°的柔性器件,在保持26.8%光电转换效率的同时,攻克了单晶硅材料力学脆性的长期技术瓶颈。技术突破:研究团队通过介观对称性调控策略,采用湿法化学蚀刻与干法等离子体刻蚀相结合的边缘圆滑处理技术
率极低,而清洗设备和CMP设备国产化率较高,刻蚀设备和薄膜沉积设备国产化率逐步提升的特点。只是,与光伏设备领域类似,半导体设备领域亦有众多的细分龙头,比如刻蚀设备和薄膜沉积设备的北方华创,离子注入设备
,众所周知,栅线的密集有利于电流的收集,但这会带来对工艺精度的考验,必须确保p-n区精准有效隔离,避免短路。在常规工艺中,激光能量叠加刻蚀不均匀会造成这个隔离区的边界限是弯曲的,但协鑫采用微米级的图形
刻蚀精度,激光工艺的稳定性和精度都大幅度提升,实现了精确均匀地隔离区分。为何选择此时发布GPC 2.0产品?盛夏指出,混动汽车市场已经证明,市场需求和技术发展决定了每一个产品都有最优市场窗口期,光伏也