LPCVD

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TOPCon的未来:良率,成本与时间的赛跑来源:集邦新能源网 发布时间:2021-03-24 09:57:03

2-2.5亿元左右,而HJT投资额在4-4.5亿元左右,但单GW PERC改造为TOPCon金额约6000-8000万元左右,主要新增设备为非晶硅沉积的LPCVD/PECVD设备以及镀膜设备,可实现

PERC、HIT、TOPCon等高效电池量产工艺比较及经济性分析来源:未来智库,全球光伏整理 发布时间:2021-03-18 08:41:32

。 1) TOPCon 电池采用 N 型硅片,需要在 PERC 产线上增加硼扩设备,背面的 SiO2隧穿层 和掺杂多晶硅层,分别采用原位热氧和原位掺杂的方式在 LPCVD(低压化学气相沉积) 中
沉积,因此还需要在 PERC 产线上增加 LPCVD 和湿法刻蚀设备。 2) HJT 电池由于采用晶硅/非晶硅异质结结构(PN 结由不同材料构成),最高工艺温度不 能超过非晶硅薄膜形成温度(200

中来宣布N型TOPCon技术获重大突破,24.5%量产效率来源:世纪新能源网 发布时间:2020-12-10 09:50:58

生产的TOPCon电池量产转换效率已达到24.5%,这是国内最高的量产效率。 公告称,中来运用了新一代J-TOPCon 2.0技术,该技术使用了全球领先的POPAID工艺技术,相较于采用LPCVD

中来发布全新一代J-TOPCon2.0技术,电池量产均效实现24%以上来源:PV-Tech 发布时间:2020-10-16 09:32:45

多晶硅实现钝化接触,大幅度提高电池效率。经过多年研发和生产调试,中来量产效率虽然达到了世界领先的23.5%+,但是由于隧穿氧化层通过高温氧化, LPCVD沉积非晶硅,离子注入掺磷,并经高温退火,多晶硅绕镀
高温氧化、管式LPCVD,离子注入去绕镀清洗四道工序的四台设备,量产设备产能达到8000片/小时。 中来称,由于利用POPAID 技术使原来TOPCon 12道制造工序缩短到9道工序。这不仅提升

N型高效电池技术路线之TOPCon来源:贺利氏光伏 发布时间:2020-07-10 11:53:43

工艺,量产化困难度低。 图2. TOPCon 工艺流程图 目前用于生长高质量重掺杂多晶硅层的方法有LPCVD(低压化学气相沉积)和PECVD两种。一种是用LPCVD原位(或离位
)掺杂形成多晶硅,由于LPCVD沉积过程会带来绕镀问题,使电池性能退化,因此可选择离位掺杂,即LPCVD形成本征多晶后再进行扩散或离子注入掺杂,形成重掺杂的多晶硅;另一种是使用PECVD沉积掺杂非晶硅或微

PERC TOPCon HJT 三种电池技术对比来源:世纪证券 发布时间:2020-07-09 08:51:17

,添加 LPCVD、B 扩以及绕镀清洗等设备即可完成产线升级,升级投资较小。 HJT HJT(Hereto-junction with Intrinsic Thin layer)技术最有可能

大尺寸、多主栅、TOPCon、异质结,热议下何为光伏行业未来?来源:索比光伏网 发布时间:2020-06-12 08:41:46

升级有望启动下一轮技术变革。当下,市场较为流行的商业化技术有PERC+和TOPCon ,其中,TOPCon通过隧穿氧化层和多晶硅薄层钝化电池,核心增加硼扩、LPCVD 设备,目前规划产能超过7GW

深度报告 | 太阳能电池、组件技术升级百花齐放 光伏设备需求景气延续来源:华创证券 发布时间:2020-05-08 10:46:16

氧化物的制备:主要以热氧工艺为主,基本可集成在 LPCVD 机台中实现; 多晶硅沉积:可分为两种方式,一种是先进行非晶硅层生长,而后通过扩散炉晶化并通入磷源进行掺杂,另一 种是通入磷源实现原位掺杂
,而后退火晶化。实际工业生产中,非晶硅沉积主要利用 LPCVD 设备实现,缺点 在于沉积过程中存在绕镀现象。 湿法刻蚀:由于非晶硅沉积存在绕镀,实际量产中采用湿法刻蚀工艺对绕镀的非晶硅进行刻蚀

北京捷造光电荣获2019年“光能杯”光伏行业评选“最具影响力设备企业”大奖来源:索比光伏网 发布时间:2020-04-01 19:33:55

、离子镀、RPD反应离子沉积等)、CVD(PECVD、LPCVD等)和ALD原子层沉积等真空镀膜设备上拥有先进技术和高端装备制造经验,形成工艺研究设备、规模化产线设备系列化产品,广泛应用于光伏、半导体、显示、纳米科技、化工、制药等领域,并拥有GW级光伏电池产线核心技术和设备制造经验。

全球首台TOPCon技术ALD设备量产来源:世纪新能源网 发布时间:2020-03-14 11:26:47

设计理念。平台能很好地与目前量产PERC工艺兼容,技术首次通过一台设备完成三种工艺,相对于传统LPCVD设备沉积技术,将大幅改善N型电池正面多晶硅绕度面积与掺杂多晶硅镀膜速率降低的影响。设备兼容性还体现