EL测试
侧组件会出现明显的功率衰减，笔者对某沿海地区发生PID现象的电站进行了初步诊断，并将随机拆卸下的240Wp多晶组件在STC条件下进行了I-V测试，功率测试结果如图1-1所示，抽选样本一共有16个组串
，横坐标表示各组串组件的位置，负1表示负极侧第一片组件，负20表示正极侧第一片组件，其余类推.
从测试结果可知，系统端的功率衰减发生在负极侧，越靠近负极其衰减越大，而在不同的组串，某些组件可能刚刚开始
? 如果小伙伴们在有能力情况下可以让测评单位或者持有EL测试设备的光伏代理商等等，通过对光伏组件EL测试对比来初步判断是否产生了PID效应。如果有实力的客户也可采购这类EL测试设备，进行不仅仅是PID
组件普通用户肉眼也很难区分，有条件的用户可以使用便携式EL测试仪器进行现场检测，分布式或者居民屋顶光伏项目可以通过看组件出厂EL图片来辨别。 对于李先生的担心，东方日升新能源股份有限公司组件技术部经理袁华知介绍，除了用仪器检测，随着时间的延长，隐裂严重的组件电池片外观上也会出现些许变化。
，第一张图是虚焊，背面有一些划痕、凹凸，或者有蜗牛纹情况的产生，肉眼能直接看到的，我们在设备的检测下面大家可以看到，这个是EL测试的隐裂，还有红外测试下产生的热斑的情况。第三方面是设计与安装的问题，我们在
，小公司心里有了底 ，不合格的组件再也别想轻易蒙混过关了。 什么是EL检测 当光伏组件出现问题时，局部电阻升高，组件内通过电流时，该区域温度就会升高。EL测试仪就像我们体检中的X光机一样
造成漏电过大和电池片串阻过高。接受光照时，因方阻不均匀，电池片方阻较小区域容易发热过高，导致电池片温度升高，继而引起效率降低。图2、图3为扩散不均匀硅片与EL图像。
摩擦功损主要存在于使用湿法刻
EVA的折射率为1.48，硅的折射率为2.76，可计算出2组氮化硅双层膜的折射率。选取电池吸收波长能量最大的600nm计算相应的双层膜厚。将上述2组材料做成组件测试其衰减情况，封装结果见表1
莱茵在东北某电站施工检查中，发现存在不当安装现象，随后的EL测试发现一部分组件出现大面积隐裂，隐裂最严重的组件的功率损失超过40%。
风险影响：
组件是光伏电站最重要的设备，其安全稳定工作是保证
。通过对后续安装的组件进行的EL测试，发现后续安装的组件的隐裂率大幅降低，处于合理范围。
参考标准及依据：
2PfG 2.572-CN Certification
站，并细分到分三个钻石、轻享、光立方三个系系列。钻石系列的品牌核心为“如钻品质，成就美好家”，该系列产品成套系统采用原厂配置，并提供原厂质保服务，经过三道电脑EL测试、十道人工检测，采用德国REIS全自动
生产线，产品均匀美观；是标准化产品，给用户多样化选择，一步到位，告别东拼西凑。此外，经过多家国内外认证机构独立认证，并通过多项国际权威机构测试，抗风雪、耐腐蚀性能卓越，防火防雷，抗PID，并有优异的
都会经过至少两次EL成像检测，测试无隐裂后才会发货。但是由于运输过程尤其是安装过程中不可避免的会对组件产生撞击或者震动，这种冲击通过边框、玻璃、背板、封装材料到达电池片，会造成脆弱的电池片产生微小裂痕
边框硅胶的保护，电池片是如何被氧化的呢?而且蜗牛纹的形状非常特殊，这种如同蜗牛爬痕的形状是如何出现的呢?
在对出现蜗牛纹的组件进行分析时我们发现，纹路一般都伴随着电池片的隐裂出现，在EL成像中能够
。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。 给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL
