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PVEL组件测试拟增加背板耐久性和热辅助光致衰减敏感性内容

发表于:2019-08-30 11:08:07    

来源:PV-Tech

PV Evolution Labs(PVEL)在光伏组件产品鉴定计划(PQP)中包括了许多重要的组件可靠性测试,这令鉴定计划可以更好的响应下游市场需求。

PVEL正在增加新的测试方案,用于解决日益增长的、与热辅助光致衰减敏感性相关的问题。 PVEL还会解决长期存在的、与光伏组件背板耐久性以及太阳能电池微裂纹敏感度相关的问题。

PV Tech最近表示,杜邦公司光伏与先进材料最新发布的“全球光伏可靠性研究”显示,与2018年报告相比,缺陷率大幅增长了47%。该研究报告的重心是650万块组件背板材料的现场检查和分析。

PVEL指出,它至少更新了一个区域PQP中的所有序列内容。

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PVEL还减少了所需的光伏组件样本总量,同时将热循环等测试的测试时间缩短了25%,在保持数据质量和完整性的同时提供了更快速的报告。公司表示,这部分内容是通过更好的输入信息和界定流程实现的。

PV Tech与DNV GL合作对PVEL的第5版光伏组件可靠性记分卡进行了详细分析。分析使用了更严格的测试机制,用于解决对标准测试中出现的失效现象了解有限的问题。

责任编辑:韩哲

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