X射线
⁻²，Voc=1.13 V，FF=81.0%)。4. 结构与机理分析结构表征扫描电镜(SEM)：CY 掺入使钙钛矿晶粒尺寸从 328 nm 增至 972 nm，减少晶界。X 射线衍射(XRD)：CY 使钙钛矿
)确定的光学带隙得到图 3.(a)对照组和掺入 CY 的钙钛矿薄膜的俯视图(上)和横截面图(下)的扫描电子显微镜(SEM)图像。(b)对照组和掺入 CY 的钙钛矿薄膜的 X
射线衍射(XRD)图谱
(DFT)模拟。(C) P3CT 和 P3CT-TBB 的 S 2p1/2 和 2p3/2 的 X 射线光电子能谱(XPS)。(D) P3CT-TBB、P3CT 和 TBB 的电子自旋共振(ESR)曲线
1s X 射线光电子能谱 (XPS)。c) Sn 3d 芯能级 XPS 光谱。d) 对照组 DLEO 和目标组
DLEO 与 PbI₂作用的傅里叶变换红外 (FTIR) 光谱。e) 电子传输层与
的横截面图像如插图所示。b)
对照组(ITO/SnO₂/ 钙钛矿)和目标组(ITO/SnO₂/DLEO/ 钙钛矿)的钙钛矿薄膜掠入射广角 X 射线散射(GIWAXS)图谱。c)
对照组(ITO
理想相互作用模型的结合能计算。c)
PEDOT:PSS与PEDOT:PSS/2-BH的傅里叶变换红外光谱(FTIR)对比。d) 两组样品的硫2p轨道X射线光电子能谱(XPS)。e)
对照组与
的示意图。b) 对照组与处理组薄膜埋底界面的扫描电镜图像。c) 两组样品的X射线衍射谱。d)
薄膜顶界面的扫描电镜对比图像。e) 剥离后对照组与处理组薄膜锡3d轨道的X射线光电子能谱。f)
添加
卤化物钙钛矿的晶体学分析与应变变化(A) 对照组、FPA-5L、PA-5L和OA-5L的掠入射广角X射线散射(GIWAXS)分析。图中黄色扇形区域(χ=10°-15°和χ=70°-75°)用于提取一维面内与面外晶格分布。(B) 对照组与长链烷基胺配体修饰钙钛矿的双轴晶格各向异性(∆
/MeO-2PACz 和 ITO/MeO-2PACz/PFN-Br 基底上的表面电势能带图。c) 对照组和 NCL 处理的钙钛矿(PVK)薄膜的掠入射广角 X 射线散射(GIWAXS)图像。d
)，以及掺杂样品中、、、和八面体的Bader电荷分析c)。空白样品和掺杂样品的X射线衍射图谱，以及最强衍射峰(220)的位移d)。元素映射e)以及Cs2NaLuCl6中Sb
3d、Ag 3d和Bi 4f
电子态的高分辨率X射线光电子能谱(XPS)光谱f)。图2.在10 K时，Cs2NaLuCl6主体、Cs2NaLuCl6： 5%Ag+和Cs2NaLuCl6：
5%Ag+，5%Bi+样品的光致发光
)3Pb4Br13薄膜的X射线衍射(XRD)图谱。图 2. a, c) 在370纳米飞秒激光脉冲激发下，L2(Rb0.7Cs0.3)3Pb4Br13和L2Cs3Pb4(Cl0.25Br0.75)13薄膜的时间分辨
曝光、超声处理等步骤，层层堆叠、精确对位。值得注意的是，每一层图案化后都不会影响其下方的结构，真正做到了“正交无扰”的精密构筑。更令人惊喜的是，通过X射线光电子能谱和开尔文探针力显微镜等手段检测发现
的 X 射线衍射(XRD)图谱。g，对照薄膜以及经
IPA-CP 和 FIPA-CP 处理的钙钛矿薄膜的扫描电子显微镜(SEM)图像。结果表明，PEAI 在 FIPA 中的渗透能力和反应活性降低
PEAI 溶解于 IPA、FIPA 和氘代异丙醇(DIPA)后处理 PbI₂薄膜的 X
射线衍射(XRD)图谱。c，纯 FIPA 和 PbI₂浸渍的 FIPA 的 19F 固态核磁共振(ssNMR)谱
