隐裂、热斑、PID效应，是影响光伏组件性能的三个重要原因，近期为大家所关注。之前的文章中，对热斑、PID效应效应进行了介绍，今天来说一下隐裂。
1、什么是“隐裂”？
隐裂是电池片的缺陷。
由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂（据西安交大杨宏老师的资料，仅电池生产阶段就有约200种原因）。隐裂产生的本质原因，可归纳为在硅片上产生了机械应力或热应力。
近几年，晶硅组件厂家为了降低成本，晶硅电池片一直向越来越薄的方向发展，从而降低了电池片防止机械破坏的能力。
2011年，德国ISFH公布了他们的研究结果：根据电池片隐裂的形状，可分为5类：树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。
图1：晶硅电池隐裂形状
2、“隐裂”对组件性能的影响
不同的隐裂，对电池片功能造成的影响是不一样的。先来看一张电池片的放大图。
图2：晶硅电池片结构
根据晶硅电池的结构，如上图，电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时，细栅线无法将收集的电流输送到主栅线，将会导致电池片部分甚至全部失效。
基于上述原因，对电池片功能影响最大的，是平行于主栅线的隐裂（第4类）。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。
45°倾斜裂纹（第3类）的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。
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