LeTID问题
PID、LID、LeTID 等衰减，后期发电能力弱。
3) 预计 2021 年 PERC 扩产潮将达到顶峰、此后各大厂商再扩 PERC 产能意愿有限，更多 精力将用于布局 HJT、TOPCon
、工艺复杂、有废水处理难等问题，目前参与厂商较少。
国外厂商包括 Baccini(AMAT 的子公司)等。
国内厂商：迈为股份占主导地位，捷佳伟创、金辰股份也推出了相关产品。
目前，HJT 设备 4
绝大多数是双面双玻组件。但在实际项目实施中，双面双玻组件由于重量问题为组件的运输和安装带来了诸多困难，同时由于硅片的增大，无疑导致组件尺寸的增大，组件的重量无疑会进一步增加。而相较于双面双玻产品，采用
电池由于硼氧复合体的存在以及PERC电池工艺特性问题使电池的初始光衰增大到了5%左右;而采用掺镓背钝化电池片，既可以享受到PERC技术带来的1% 左右的效率提升，同时可以彻底解决硼氧复合体的问题，能够
提升，ASTRO 6系列组件效率最高可达21.57%。与此同时，正泰也配套解决了大尺寸硅片带来的工艺制程、可靠性和包装物流问题，是当下真正可以实现量产级的高效600W+组件技术，其对BOS成本的节省
机械载荷能力;
◆ 采用掺镓硅片，降低热斑温度、低LeTID 及LID;
◆ 通过优化边框结构及材质设计，提高稳固性;
◆ 超长质保，品质可靠。
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低电压
◆ 低电压带来单串可串组件
通过热循环、湿热和LID/LeTID敏感性在内的各种测试程序得出的结果的基础上，PVEL的光伏组件产品认证计划(PQP)对太阳能组件进行了评分，目的是为组件制造商的比对提供经验数据，同时也为上游
所增加。在符合今年计分卡要求的物料清单中，约有26%至少出现了一次不合格，而去年的比例只有20%。
出现故障次数最多的是机械应力序列，这是PVEL今年为解决与极端天气有关的耐久性问题而增加的认证序列
(光致衰减)与LeTID(光热致衰减)问题，结合多主栅、半片技术，组件的可靠性得到提升。晋能科技还推出PERC双面组件，在不同环境下，组件背面可产生5%-25%的额外发电量，同时该组件可选择透明背板
在刚刚结束的第五届新能源发电运营与后服务研讨会上，陕西众森电能科技有限公司做了题为光伏电站中组件常见问题及测试方法探讨的报告，提出了针对光伏电站上组件功率及缺陷的精准快捷测试解决方案，受到了广大电站
，实验室测试成本过高的问题。
陕西众森下属的PV Test实验室是依托于众森公司成立一家专业从事光伏组件、光伏电站检测及其他相关服务的国家认可检测实验室，在
热烈的讨论。
DEKRA德凯的技术专家，同其他中国代表团的专家们应邀共同出席了本次会议，并在热烈的气氛中积极献计献策，对各类技术问题给出了专业的意见。接下来，DEKRA德凯将从组件标准、零部件标准和
测试 (MST 06) 的试验指胶带问题进行了说明，并引用了IEC TR 62854中的内容。- 脉冲耐压测试 (MST 14) 的T1的公差从5s降至了3.12s。
仍在讨论的议题：- 删除或
双面组件
各种材料的组合
另外，该导则草案还考虑了目前IEC 61215/61730标准的最新变化。
目前有些问题还需要现在项目组内进一步讨论：
边框界面的变化
接线盒的变化，首先考虑如何
会加速PID效应，加快数据的收集。
IEC TS 63342 LETID测试
Light and elevated temperature induced degradation (LETID
技术问题给出了专业的意见，并直接参与了IEC61215系列、IEC 61730系列、IEC 63342、IEC 62759-1、IEC TS 62915、IEC TS 63209-2等标准的编制工作
(PV)器件的等效电池温度(ECT)
IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法
IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试
IEC
委员，与中国代表团共同出席了此次会议，积极探讨标准技术细节，就诸多技术问题给出了专业的意见。
不仅是线上参与讨论，在线下，来自鉴衡的委员代表们及相关技术专家，会就当天的标准热点进一步交流，并及时汇总
(LETID)测试：检测
IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测
材料及零部件标准
IEC 62788-1-1 ED1 光伏组件用材料测试程序 第1-1
