密栅组件

组件技术的帮忙了。 海泰新能副总经理刘强表示，目前PERC中能达到310W的组件产能还是比较少的，尤其是双面PERC，若正面要达到310W，基本上必须叠加半片或者多主栅技术才行。这两种组件技术都能

品阵列，以满足市场对于高技术、高质量、高效率且低成本产品的需求。 东方日升本次展出的九大新品阵列核心为半片组件，包括300W 120片半片多晶黑硅组件、310W 120片半片密栅多晶PERC组件

120片半片密栅多晶PERC组件、360W 144片半片多晶黑硅组件、390W 144片半片单晶PERC组件等四款半片新品。同时公司还推出了密栅单晶PERC组件、叠片多晶黑硅组件、双面单晶

、310W半片密栅多晶PERC组件、335W60片叠片单晶PERC组件、360W半片多晶黑硅组件、390W半片单晶PERC组件、420W72片双面单晶PERC组件等新品引来各界广泛关注。东方日升技术负责人表示

实质性突破。庄英宏表示：自2017年9月公司自主研发的半片高效组件实现量产且顺利出货后，目前技术团队正加大对高功率密栅组件技术的研发。该技术拥有衰减率低、耐高温和发电效率高等特点，可进一步促进度电成本的

包括硅材料缺陷(位错、层错、参杂异常)、扩散缺陷(方阻不均匀)、印刷缺陷(断栅、虚印)、烧结缺陷(履带印)、工艺污染以及组件封装过程中的隐形裂纹等。 EL测试常见缺陷及分析 2.1
，并且在组件的制程过程中更容易引起破片、隐裂等问题。因此EL测试成为了生产中监测隐裂片的重要手段，通常在组件层压前工序及时将隐裂片更换，可减少组件成品不良。 2.3、断栅 随着光伏行业的