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测试仪、LID+LeTID光衰平台等大型设备10余台套，能够开展光伏组件的性能测试、环境模拟测试和老化测试试验。陕西众森电能科技有限公司依靠强大的研发团队
，针对光伏电站和组件生产过程的测试需求，不断创新，开发了大面积、长脉冲的组件模拟器、双面同步闪光组件功率测试仪、LID和LeTID测试平台以及光伏电站移动检测平台等设备。而PV Test实验室在公司大量

63342 Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test for c-Si Photovoltaic (PV
) modules: Detection 晶硅光伏组件高温辅助光致诱导衰减测试目前状态：CD草案将于本月提交。 - 正式写法统一为LETID。- 升温条件: 当温度达到要求时再通入电流。- 对标准中的

会加速PID效应，加快数据的收集。 IEC TS 63342 LETID测试 Light and elevated temperature induced degradation (LETID
是否继续，如果2个循环之后，功率衰减超过3%，可能还需要进行第3个循环来检查组件最大的LETID功率衰减程度。定义如果功率衰减超过3%为LETID敏感组件，具体计算时需要和IEC 61215一样

(PV)器件的等效电池温度(ECT) IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试 IEC
晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp) 目前草案处于CD准备阶段，即将提交高温辅助光致衰减(LETID)是导致多晶硅光伏电池及PERC组件衰减的

(LETID)测试：检测 IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测材料及零部件标准 IEC 62788-1-1 ED1 光伏组件用材料测试程序第1-1
(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测 (项目组长：Max B. Koentopp / Christos Monokroussos) 目前草案处于CD阶段。高温辅助光致衰减

风能部数据分析师桑小舟在会上分别发表了《储能系统评估方案及经验分享》、《光伏组件LeTID性能评估》、《基于AI+传感器的光伏组件在线检测技术及应用》等主题演讲。值得一提地是，TV北德基于AI+传感器的光伏组件在线检测技术服务在本次SNEC十大亮点评选中荣获了兆瓦级翡翠奖。

产品双玻双面高效组件功率达到550W，采用P型M10硅片、 PERC+10BB+半片电池技术，组件转换效率达到20.79%。该组件具有更高的抗LID与LeTID性能，优异的弱光和抗PID性能，12年
更高的抗LID与LeTID性能，优异的弱光和抗PID性能，12年质量保证，30年发电性能质保。 BS组件国内唯一一家可批量生产IBC电池BS高端组件，组件正面全黑无栅线、设计美观，是目前最高