近日，我中心应邀参加在上海举办的“亚洲光伏耐久研讨会”。此次会议主题主要涵盖太阳能行业环境耐久性研究及测试，材料性能研究，服役寿命测试及预估最新研究成果，最新光伏“qualification plus”测试方法及其对IEC标准的影响。
会议上，来自VDE、中山大学、弗朗霍夫太阳能系统研究所、韩国FITI测试研究所、美国保险商实验室、国家可再生能源实验室等全球各大知名研究所实验室的专家分别作了对光伏组件耐久性方面的最新研究成果的交流和分享。国家光伏质检中心作为光伏行业具有重要影响力的检学研一体的大型综合检测机构也派出了技术专家参与了与此次交流学习活动。
各专家的最新研究报告具有很高的价值，中山大学太阳能研究所的董娴女士展示了来自1982年Solarex生产的晶体硅组件、1987年BP solar生产的晶体硅组件、1996年Siemens Solar及2010年Kyocera生产的晶体硅组件在户外运行多年的衰减率研究结果，研究发现光伏组件的寿命可以达到30年、甚至40年，多晶硅组件的总体衰减低于单晶硅组件，不能通过组件的外观判断组件衰减并且急需开发无损伤探测设备对组件进行现场分析测试。专家的研究报告将为我中心对于组件衰减及加速老化的测试研究提供了很好的参考。
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