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中国电子材料行业协会蓝宝石专业研讨会在京召开

来源:solarbe发布时间:2012-07-02 17:22:02

2012年6月17日,中国电子材料行业协会蓝宝石专业研讨会在京召开,合能阳光应邀参加。中国半导体协会秘书长关白玉,中国电子材料协会秘书长袁桐,中国电子科技集团四十六所所长甘国田,半导体分会秘书长朱黎辉 ,协鑫光电董事长朱国民……等业内知名专家和企业代表都参加了本次会议。本次会议就如何实现蓝宝石LED行业健康有序发展及未来成立蓝宝石专业协会等进行了积极深入的探讨。北京合能阳光新能源技术有限公司技术副总陈才旷指出:合能阳光作为目前国内行业检测的领跑者,以提高客户的产品品质和竞争力为使命,正着手打破目前国内半导体品质检测各自为政的局面。 整合多方检测资源,为提升光伏产品品质,降低企业生产的成本,增强蓝宝石产品的竞争力做出更积极的努力。


 
我公司技术副总陈才旷和半导体分会秘书长朱黎辉合影

2.合能阳光参展德国慕尼黑Intersolar国际光伏展,并受邀出席了中德俄能源合作会议等活动。
2012年6月13日-6月15日,合能阳光参展德国慕尼黑Intersolar国际光伏展。合能阳光总经理肖宗杰受邀参加中德俄能源合作会议,此次会议展示了俄罗斯在光伏技术方面的深厚底蕴,其在光伏发电的应用也将突飞猛进,同时德国装机市场也保持了稳定增长和转向屋顶系统的新趋势。会议期间合能阳光与俄罗斯TELECOM公司达成战略合作伙伴协议,双方约定在技术研发方面继续保持良好合作关系并加大在光伏检测新产品方面的投入。
  
 


上图为 合能阳光肖宗杰参加俄罗斯能源部官方新闻发布会
 

 
上图为合能阳光总经理肖宗杰,国际部经理董培明与TELECOM总裁Mr.Vladimir,技术总监Mr.Boris合影。

3 .新产品发布  合能阳光近期引进了PHYS-R80无接触硅片厚度电阻率测试系统。该系统检测硅片电阻率通过无接触法一次性检测,大大提高了检测硅片的速度,并避免了对被测硅片的损伤。成功解决了当前行业检测硅片电阻率必须先检测厚度的烦琐问题。 备注:传统测量硅片电阻率必须先用测厚仪测试硅片厚度,再用四探针法去检测电阻率,这种方法既占用时间又容易损伤被测物。
 


PHYS-R80无接触硅片厚度电阻率测试系统

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