EL测试
，虚印、断栅区域的电流没有被收集到，电池的效率会降低，在EL测试时则更能准确地体现。外观断栅、虚印的主要表现是栅线印迹中断或模糊，如图1和2，而丝网参数设置不正确，网版线宽与浆料不匹配，网版堵塞，刮条
间由四周擦拭，再绕四周擦拭，确认网版清洁后先进行1-3片的试生产，通过45观察电池片栅线是否有虚印、断栅现象。同时在更换新网版时，在参数调整合适后，进行5片左右的外观检查，同时进行EL测试
印、断栅区域的电流没有被收集到，电池的效率会降低，在EL测试时则更能准确地体现。外观断栅、虚印的主要表现是栅线印迹中断或模糊，如图1和2，而丝网参数设置不正确，网版线宽与浆料不匹配，网版堵塞，刮条磨损
现象。同时在更换新网版时，在参数调整合适后，进行5片左右的外观检查，同时进行EL测试。浆料使用需按照少量多次的原则进行添加，若周边浆料变干，应及时铲出进行处理后再行使用。其次增加对烧结后的EL测试监控
材料及生产工艺设备都一致，制作每块组件的同时还制作一个陪样，用于测试组件EVA材料的黄变指数。生产出的组件经过EL检测和I-V曲线的测试，确定质量合格，把4组组件和陪样同时放入环境试验箱进行湿热老化
及生产工艺设备都一致，制作每块组件的同时还制作一个陪样，用于测试组件EVA材料的黄变指数。生产出的组件经过EL检测和I-V曲线的测试，确定质量合格，把4组组件和陪样同时放入环境试验箱进行湿热老化，测试条件
过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成，即内阻和电池片自身暗电流。热斑耐久试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以
运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。光伏组件在出厂前会进行EL成像检测，所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定
过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成，即内阻和电池片自身暗电流。热斑耐久试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以表明
过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。光伏组件在出厂前会进行EL成像检测，所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的
IV曲线的异常特征不太明显，还需结合下面的方法（开路电压法、EL）进行综合分析。图15 单片电池片PID衰减后的I-V曲线（2）开路电压（Voc）测试法由于PID组件电性能参数有一个明显特征，即并联
测试难以判断的情况下，可以用该法进行判断。（3）便携式EL测试法需要使用便携式EL设备，PID组件在EL下的明显特征为边框四周电池片发黑（因电池PN结失效）。如下图16所示，PID越严重，那么发黑的区域
）检测由于其质量高、成本低、且能快速、准确识别出组件电池单元常见缺陷等特点，在组件封装生产环节中得到了广泛应用，该检测应用对整个光伏产业具有深刻意义和重大价值。2、电致发光（EL）测试原理在太阳能电池
发光，这就是太阳电池电致发光的基本原理。太阳能电池电致发光（Electroluminescence）测试，又称场致发光测试，简称EL测试。其原理是，通过对晶体硅太阳能电池外加正向偏压，模拟实际使用中
组件EL测试出现亮斑是什么原因？最初，组件亮斑较轻，但组件在安装运行一段时间后，亮斑加重，并且功率衰减严重。亮斑导致原因可能有以下几点：1，电池片虚焊，EL电池片主栅线位置会发亮；2，电池片本身结构
，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。 给晶硅组件施加电压后，所
不大，组件中2/3的斜条纹对组件的功率稳定没有影响。因此，当组件中的电池片出现隐裂后，可能会产生效率损失，但不必谈隐裂色变。 3、检测隐裂的手段 EL（Electroluminescence
