EL测试

EL测试,索比光伏网为您提供EL测试相关内容,让您快速了解EL测试最新资讯信息。关于EL测试更多相关信息,可关注索比光伏网。

中科院选用陕西众森高端EL组件缺陷测试来源:索比光伏网 发布时间:2016-12-02 09:58:42

近日,中国科学院上海微系统与信息技术研究所成功采购了陕西众森高端EL缺陷检测仪(型号:GEL-M10)作为他们的检验设备。中科院作为全球领先的研究机构与国家权威的实验室,在众多国内外厂商中而选用

【评估】我国光伏电站运维现状及问题来源: 发布时间:2016-11-28 10:25:59

严重:平均衰减率达到9.08%,其中最严重的近18%,通过EL测试发现衰减严重的组件均存在不同程度的裂纹、断栅、黑片等现象。造成这些组件转换率低无非以下几个原因:其一,因加工工艺粗糙,组件出厂即带有问题
;其二,组件运输及野蛮施工,造成组件隐裂。具体检测结果如下:  光伏组件热斑现象普遍:针对某40MW光伏电站,现场抽取电站2000块光伏组件进行热斑测试,发现大量由于遮挡、组件自身质量导致的热斑现象

给你讲光伏组件的那些事儿来源:智汇光伏 发布时间:2016-11-24 10:53:28

时候,肯定存在误差。 另外,很多组件出场可能就是-3%的功率偏差,还没衰减,3%就直接没了 2EL测试当光伏组件出现问题时,局部电阻升高,该区域温度就会升高。EL测试仪就像我们体检中的X光机一样

陕西众森荣膺OFweek 2016 最佳光伏配套商来源:索比光伏网 发布时间:2016-11-23 10:19:05

大系列二十余种产品。为满足行业技术迅速发展与客户对电池的更高要求,每年都会陆续推出新品,如今年推出的《高效太阳能模拟器测试仪》、《高像素EL缺陷检测仪》等,一推出就受到天合、东方日升、印度Tata
、昱辉、中利腾辉等国内外光伏测试各大厂家的青睐。陕西众森正在为全球超过900多家光伏企业提供优质的产品与服务,产品远销30个多个国家与地区,设备市场占有率位居全球第一,国内超过60%,是光伏行业高端装备的

陕西众森荣获2016“光能杯”优秀光伏设备供应商大奖来源:索比光伏网 发布时间:2016-11-16 14:25:26

客户对电池的更高要求,每年都会陆续推出新品,如今年推出的《高效太阳能模拟器测试仪》、《高像素EL缺陷检测仪》等,一推出就受到天合、东方日升、印度Tata、昱辉、中利腾辉等国内外光伏测试各大厂家的青睐

如何通过运维降低组件、光伏逆变器的损耗?来源:古瑞瓦特新能源 发布时间:2016-11-13 23:59:59

。降低损耗之建议二加强竣工验收力度,通过有效的验收手段保障光伏组件及汇流箱的质量在施工环节不受到损坏,确保电站的施工质量,着重建议进行的验收内容如下:组件EL测试;汇流箱各支路组串电压电流测试(开路

单晶硅与多晶硅电池衰减特性研究来源:顺风光电 发布时间:2016-10-13 23:59:59

参数分别采用Nicolet8700傅立叶红外(FT-IR)光谱仪、德国SemilabWT-1000少子寿命测试仪、上海星纳MS203晶片多功能参数检测仪进行测试;电池光照处理采用
上海太阳能工程技术研究中心HS1610C热斑耐久试验装置;光照前后的电池性能参数测量采用德国H.A.L.M高精度I-V测量系统;采用中导光电设备有限公司的FL-01一体机进行硅片的光致发光(PL)和电池的电致发光(EL

【干货】单晶硅与多晶硅电池衰减特性研究来源:顺风光电 发布时间:2016-10-13 15:52:02

(PL)和电池的电致发光(EL)测量。 2.2试验样品及处理 样品采集相同电阻率(1~3)的铸锭多晶硅(MC-Si)及直拉单晶硅(CZ-Si),测试其原料硅片各项参数并作相应记录;然后将样品经过相同
含量、少子寿命,以及硅片厚度等参数分别采用Nicolet8700傅立叶红外(FT-IR)光谱仪、德国SemilabWT-1000少子寿命测试仪、上海星纳MS203晶片多功能参数检测仪进行测试;电池

太阳能电池片隐裂及识别方法来源:光伏在线学堂新浪博客 发布时间:2016-10-11 09:38:58

推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD
,可能会产生效率损失,但不必谈隐裂色变。3、检测隐裂的手段EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的核心部分是半导体PN结,在没有其它激励

【干货】分析造成太阳能电池片隐裂的因素来源: 发布时间:2016-10-11 02:16:59

显示出来,EL图像的亮度正比于电池片的少数载流子扩散长度与电流密度。存在缺陷的地方,少子扩散长度较低,所以显示出来的图像较暗。因此可以通过测试图像的明暗来判断组件的质量问题。整个测试过程需要在黑暗环境中进行。下图为EL下的线性隐裂:下图为EL下片状隐裂:下图为EL下组件缺角: