光因

导致的偏差。 测试环境：暗室环境，尽可能减少环境光或者光反射对测试结果的影响。 测试设备：太阳模拟器等级要求为 AAA 级(部分可达 3A+ 级)，同时测试方法尽可能贴近被测样品的特性(如用长闪光
封存出厂组件作为参考组件并送往第三方实验室进行测试，以消除后续不同测试地点(测试设备)测试时因溯源造成的测试偏差。 对于组件当前最大输出功率的测量，应在筛选无缺陷无灰尘的组件，在 STC 条件下

过高的态势。近年来，装机规模的膨胀不断加大着补贴缺口，而业内对于平价上网的呼声也因过于自信而超出了行业发展的规律和现实。随着旨在推动光伏健康、有序发展的531政策出台，行业的发展逐渐从追求规模转向追求
密集向海外拓展，据中国光伏行业协会统计，我国已有超过20家光伏企业在海外布局产能，行业正在掀起新一轮走出去热潮。 阿特斯COO张光春认为，我国的光伏行业是靠国外市场起家的，中国光伏企业不能局限于

优秀的品牌影响力，公司的业务持续增长。本季度海外组件出货占比接近80%，消除了因国内需求放缓造成的影响。随着光伏的竞争优势日益显现，许多关键性市场已开始实现平价上网，明年全球需求将全面复苏，公司有能力
进一步扩大市场份额。 此外，技术和品质的行业领先助力业绩持续增长，公司继续致力于高效技术的开发和应用，同时持续优化产品的成本结构，在提升硅片转换效率、降低氧含量和光衰方面均取得了持续进步。同时，公司

，对电池片加载电压后，使之发光，再利用红外成像仪摄取其发光影像。因电致发光亮度正比小于少子扩散长度，划痕处因具有较少的少子扩散长度，会发出较弱的光，从而形成较暗的影像。根据缺陷图像的分析，更改
入石墨舟内，进行PECVD工艺。如图2所示。在该设备运行过程中，产生Al2O3钝化层划痕的因素主要有以下几个方面。(1)硅片在传输过程中，Al2O3钝化层因接触皮带，由于摩擦、产生相对运动造成划痕;(2

0.4MM，印后的宽度四个边各会向外溢出50 - 100UM. 问题3：目前隐裂，碎片情况怎么样? 观点1:目前破片率赛拉弗控制的比常规组件略高0.05%左右。 观点2:目前破片率以光远股份叠瓦焊接
。 观点2:以光远股份设备为例现因激光划片产生的功率损失常规电池在0.2%, HIT电池在0.3%左右，单片功率越高电池片切损也越大。 问题6：叠瓦组件涉及的专利比较多，如何应对? 观点1:目前关于

PECVD目的 在硅片表面沉积一层氮化硅减反射膜，以增加入射在硅片上的光的透射，减少反射，氢原子搀杂在氮化硅中附加了氢的钝化作用。 镀膜原理 光照射在硅片表面时，反射会使光损失约三分之一
。如果在硅表面有一层或多层合适的薄膜，利用薄膜干涉原理，可以使光的反射大为减少，这种膜称为太阳电池的减反射膜(ARC，antireflection coating)。 管式PECVD的原理就是通过脉冲

配电柜后面引出线处的灰尘; 7)低压电器发热物件散热应良好，切换压板应接触良好，信号回路的信号灯、按钮、光字牌、电铃、电筒、事故电钟等动作和信号显示应准确; 8)检验柜、屏、台、箱、盘间线路的线间和
温度，防止因接触不良而引起电缆烧坏连接点; (10)确保电缆终端头接地良好，绝缘套管完好、清洁、无闪络放电痕迹，确保电缆相色应明显; (11)金属电缆桥架及其支架和引入或引出的金属电缆导管必须接地

的TP660M-280单晶组件)、B3(日托生产的SPP275P60多晶组件)、B12(正泰生产的CHSM6612P-325)三种组件，因实际安装容量较小，监测运行和实证监测采集数据代表性不强，本报
，双面组件发电功率还受反射光、散射光影响，存在其监测功率大于初始标定功率的情况，故名义衰减率会出现负值。 3.实验室检测工作根据实际情况不定期开展。 4.各项指标具体计算方式详见附件《月报

发表了主旨演讲。 伴随着光伏平价上网趋势越来越明朗，降本提效成为行业关注重点。在此背景下，PERC技术因具有高光电转化效率、低衰减、高发电量等多重优势而备受青睐。据国际光伏技术线路
/m2、200小时的测试条件下，东方日升双面PERC电池表现出了优异的抗光衰特性，衰减率最高仅为~1%。相对行业通用的在25摄氏度、1000W/m2、5小时条件下测试，东方日升的内部测试方法更为严苛，也

了该缺陷的结构(2003)。Axel Herguth提出了再生态理论解释初始光衰后功率恢复并保持稳定的原理(2006)。P型多晶硅电池的衰减则因氧含量相对少而恢复过程不明显，该衰减被认为不仅与B-O对
。 UNSW(新南威尔士大学)认为(光致)再生过程的机理在于促使P型硅中存在的H+转化为H0，H0可以钝化BO+缺陷乃至金属离子如Fei+、Cri+，商业化的光致再生设备因需要高生产速率，因此需要