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电致发光原理对组件进行缺陷检测。EL测试的图像亮度与电池片的少子寿命(或少子扩散长度)、电流密度成正比，太阳电池中有缺陷的地方，少子扩散长度较低，从而显示出来的图像亮度较暗。电池制造过程，一般包括制绒、扩散
年轮状，其产生的原因主要在于单晶提拉过程中氧杂质分凝以及空位的聚集所产生的呈圈状分布复合缺陷。EL测试下的黑斑形状不同于黑芯片，而且产线实验也已排除原生硅片材料质量问题，因此有必要对黑斑片的产生原因和

专注于组件性能测试，旨在发现组件质量和性能方面的问题，包含以下：【STC性能】(A+A+A+直射式长脉冲模拟器) 【EL】(像素高达6000万) 【PID性能】【LID】( LED模拟器
送检抽样，随机抽样测试的可信度更高。 step 2 VI检测此步骤是为检测组件表面是否受损、外观是否完好。 step 3 EL检测 EL检测检测组件的内部缺陷，用于检测组件内部是否有黑斑、断栅

电阻仪等。推荐使用红外热成像仪、电能质量分析仪、光伏发电系统测试仪、EL检测仪、IV曲线测试仪等检测设备。 3、备品备件太阳能电池板;逆变器及其配件(直流端子、通讯模块或数据采集器、散热风扇、直流

，并且在检测的所有阶段都由第三方专家机构测控，整个测试专注于组件性能测试，旨在发现组件质量和性能方面的问题，包含以下：【STC性能】(A+A+A+直射式长脉冲模拟器) 【EL】(像素高达
测试的组件能全面代表制造商生产线上实际生产的组件，相比于传统的送检抽样，随机抽样测试的可信度更高。 step 2 VI检测此步骤是为检测组件表面是否受损、外观是否完好。 step 3 EL检测

缺陷检测。EL测试的图像亮度与电池片的少子寿命(或少子扩散长度)、电流密度成正比，太阳电池中有缺陷的地方，少子扩散长度较低，从而显示出来的图像亮度较暗。电池制造过程，一般包括制绒、扩散、刻蚀、PECVD
产生的原因主要在于单晶提拉过程中氧杂质分凝以及空位的聚集所产生的呈圈状分布复合缺陷。EL测试下的黑斑形状不同于黑芯片，而且产线实验也已排除原生硅片材料质量问题，因此有必要对黑斑片的产生原因和相关生产工艺

收集能力，更稳定的电力输出。该产品空间分辨率低于0.5毫米，前后两道以上EL测试保证组件内零缺陷，同时实现了全自动组件生产流水线，100%线上生产、100%线上检测，保证了产品的一致性。另外，该产品还通
过了组件背面2400帕的风载荷及正面5400帕的雪载荷认证、业界严苛条件下的抗PID(电势诱导衰减)权威测试(85摄氏度/85%相对湿度，96小时)、严苛的ATLAS稳态光照测试等

为代表的户用逆变器，MPPT渗透率均达到100%，大大减少了因遮挡或安装角度问题造成的发电量损失;采用无熔丝设计，具有自然防反接功能，通过多种安全测试，确保系统安全可靠;同时依托TB-eCloud
，行业领先。在叠瓦组件成套设备领域，先导为客户提供从电池片上料到层前EL前全段设备的解决方案，行业内客户端实现全段自动化量产，整线节拍60件/小时，可生产叠瓦电池串总长度1600-2000mm

容量2.16 kW。这些组件外观保养良好，没有明显的灰尘和污垢。小组成员做了简单的外观检查后，便决定先吃晚饭，待天黑后再进行EL测试。徐经理自大学毕业后一直从事光伏逆变器的研究工作
珍宝仔细听诊电致发光(EL—Electroluminescence)是一种有效地发现太阳电池中缺陷的测试方法。来自中科院电工所光伏检测中心的工程师孙然告诉徐经理：“通过对组件EL

电致发光原理对组件进行缺陷检测。EL测试的图像亮度与电池片的少子寿命(或少子扩散长度)、电流密度成正比，太阳电池中有缺陷的地方，少子扩散长度较低，从而显示出来的图像亮度较暗。电池制造过程，一般包括制绒、扩散
年轮状，其产生的原因主要在于单晶提拉过程中氧杂质分凝以及空位的聚集所产生的呈圈状分布复合缺陷。EL测试下的黑斑形状不同于黑芯片，而且产线实验也已排除原生硅片材料质量问题，因此有必要对黑斑片的产生原因和

实现背面接触。通过在电池背部附上介质钝化层，可减少光电损失，提高电池效率。 2PERC电池EL缺陷分析 2.1局部划伤在PERC电池制备工程中，难免存在局部划伤痕迹，对于背表面非常好的钝化膜
来说，划伤痕迹使得背表面复合速率局部下降，这些划痕可能不影响整体效率，但从EL照片看会出现划痕阴影，归为次品，有些企业这种因划伤造成的EL次品会达20%～30%。划痕产生原因与在工艺过程中蹭片，工人

周期性检查，包含明显的问题，此部分在IEC 62446-2中有所介绍，外观巡检及红外、EL测试等作为辅助以上内容需要有运维方进行收集，基于电站持有人、当地电网等要求。 3.3 问题反馈机制
运行。以上所有内容的出现，需要在记录系统中进行准确客观记录。 4. 工具、测试及测试设备 4.1 电站运维过程中进行的检查、检测及使用的工具、测试设备需要在运维指导中进行明确的要求。所有应用于

。更多措施可以包括在安装前对所有组件开展EL检测或更频繁的检测，并对在用的PV系统开展测试。 3.电势诱导退化目前，电势诱导退化(PID)主要与晶硅组件相关。尽管一些c-Si组件制造商目前可提供
、可靠性测试计划和测试等效时间等主要问题。 UL白皮书中探讨了有助于制造商及客户评估在真实条件下PV组件可靠性的各种测试方法。白皮书首先阐述了组件在PV系统性能中的耐用性和可靠性状况，并探讨了在评估