2019SNEC索比光伏网专访预约
黑片、断栅、碎裂、隐裂电池要不得~EL测试常见缺陷分析
发表于:2018-09-07 10:03:16
来源:摩尔光伏

主要利用电致发光(EL)手段对晶体硅光伏组件产生的裂纹、断栅和黑片等隐性缺陷进行分析研究,测试组件的最大功率;将有明显隐性缺陷的组件与无明显隐性缺陷的组件进行对比,分析各性能参数的差异,同时研究缺陷对功率的影响及缺陷产生的原因。另外,为研究黑片对组件的影响,选取组件做PID试验,观察试验后的组件EL图像和功率衰减情况,分析黑片产生原因及其对组件性能产生的影响。







索比光伏网(solarbe.com)责任编辑:suna

阳光电源
特变电工
隆玛科技
  • 日榜
  • 周榜
  • 月榜
投稿与新闻线索联系:010-68027865 刘小姐 [email protected] 商务合作联系:010-68000822 吕先生 [email protected] 紧急或投诉:13811582057, 13811958157
京ICP备10028102号-1 电信与信息服务业务许可证:京ICP证120154号
地址:北京市大兴区亦庄经济开发区经海三路天通泰科技金融谷 C座 16层 邮编:102600