美国NREL实验室（National Renewable Energy Laboratory）此前证实无论组件采用何种技术的P型晶硅电池片，组件在负偏压下都有PID的风险。然而我们依然看到市场上很多“大言不惭”的破纪录认证。
尽管各光伏组件制造商在各认证机构做PID测试进行的如火如荼，相对统一的测试条件是-1000V，85%湿度，关于时间、温度方面还存在差异，以时间为例，测试可以在96-192小时之间。
但真实情况是目前整个行业对PID尚没有公认的统一国际标准，在现有测试标准下，只要组件显示出其额定功率性能损失少于5%，就被认证机构认定为通过测试，那么是否能保证组件万无一失？这一点，认证机构工作人员自己都认为值得怀疑。
详细查看部分组件制造商的PID-FREE测试报告，会发现其中的不一样，据认证公司反馈，测试条件可以根据客户要求调整，有些组件企业对自身组件产品要求高，会按照最严酷的测试条件进行测试；而有些组件企业因为市场情况不一样，会选择温和一点的测试，这些因企业因测试机构而异（如表一）。
PID测试无统一标准，认证机构各自为政
据PV－Tech了解，因为没有针对PID的统一标准，绝大部分第三方认证机构的PID测试依据是在国际电工委员会（IEC）提出的IEC62804、IEC61215、IEC61730标准参考前提下进行。
这里有一点让人疑惑，大家所熟知的IEC标准中包含了环境（双85温度湿度等）、安全电气条件下的测试条件。目前市场上流通的组件，一般都通过了IEC61215、IEC61730标准测试，在已有测试情况下，为什么还要对组件做PID测试？
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