首页 资讯信息 研究咨询 服务应用 展会会议 视频图片 期刊专栏 新媒体
关闭
关闭

【天合光能发布】之五:向框架漏电造成的“PID现象”

发表于:2015-08-25 00:00:00     来源:日经bp社
索比光伏网讯:

本文继续介绍中国大型太阳能电池板厂商的日本法人天合光能日本公司(东京都港区),就利用双面玻璃太阳能电池板提高可靠性技术的发布会内容。以往采用树脂背板的太阳能电池板存在的可靠性课题,可通过用两枚玻璃夹住电池板的密封构造来解决。

双面玻璃太阳能电池板作为今后可提高百万瓦级光伏电站可靠性的技术受到了关注。以前用树脂背板时存在的封装课题——长期可靠性也有望得到提高。

以往太阳能电池板存在的课题之一是名为PID(Potential-Induced Degradation)的现象(图)。就是在特定条件下,太阳能电池板上加载高电压,输出功率大幅降低。除了因太阳能电池板和构成发电系统的零部件种类外,PID现象还会因高温、高湿及系统电压等条件的影响而产生。

图:在电压、湿度、温度等条件下发生的PID现象
可从太阳能电池板和发电系统两方面采取对策(出处:天合光能日本)
责任编辑:solar_robot
特别声明:
索比光伏网所转载其他网站内容,出于传递更多信息而非盈利之目的,同时并不代表赞成其观点或证实其描述,内容仅供参考。版权归原作者所有,若有侵权,请联系我们删除。

光伏行业最新动态,请关注索比光伏网微信公众号:solarbe2005

投稿与新闻线索联系:010-68027865 刘小姐:news@solarbe.com

扫码关注

新闻排行榜

本周

本月

投稿与新闻线索联系:010-68027865 刘小姐 news@solarbe.com 商务合作联系:010-68000822 media@solarbe.com 紧急或投诉:13811582057, 13811958157
版权所有 © 2005-2023 索比光伏网  京ICP备10028102号-1 电信与信息服务业务许可证:京ICP证120154号
地址:北京市大兴区亦庄经济开发区经海三路天通泰科技金融谷 C座 16层 邮编:102600