行业广泛接受。就在最近,PVEL决定,将光伏组件最新测试项目LeTID列入其PQP测试序列。
图1:PVEL最新PQP测试序列
图2:PQP测试序列中LeTID测试步骤
据业内专家介绍,高温
辅助光致衰减(LeTID)几乎已经取代了电势差诱导衰减(PID),成为投资者和资产所有者必须避免的最新、最新的衰减形式。
PVEL研究发现,LeTID在户外已经造成了高达5%的功率衰减,这几乎完全
Q.ANTUM组件的核心。具备Q.ANTUM技术的尖端科技和发电保障,包括出色的抗PID(电势诱导衰减),抗LID(光诱导衰减)和抗LeTID(光照和高温诱导衰减)性能,热斑保护和质量追踪Tra.QTM激光
关键成分。 Q.ANTUM技术还提供基于其他功能的长期可靠性,包括抗LeTID(光和高温诱导衰减),抗LID(光诱导衰减)和抗PID(电势诱导衰减)性能,以及热斑保护和可追溯的质量Tra.Q激光识别
Q.ANTUM技术的关键成分。 Q.ANTUM技术还提供基于其他功能的长期可靠性,包括抗LeTID(光和高温诱导衰减),抗LID(光诱导衰减)和抗PID(电势诱导衰减)性能,以及热斑保护和可追溯的质量
更佳的抗LID、抗LeTID表现,以保证最低的度电成本。通过采用半片和多主栅组合技术,Jaeger组件功率已突破400Wp,Jaeger HP系列72版型组件光电转换效率打破世界纪录,并已通过第三方
发电保障包括优异的抗LeTID(光和高温诱导衰减)、抗LID(光诱导衰减)、抗PID(电势诱导衰减),热斑保护,以及Tra.Q激光标识进行质量追溯从而防止伪造。 Q CELLS的首席执行官金熙喆先生
、优异的抗LeTID性能以及抗PID、抗老化等高可靠性优势,能够实现更低的PPA 价格,在平价时代给客户带来更高的用户端投资回报率。
优化SE技术、多主栅技术、制绒与背面抛光工艺、背钝化工艺、激光工艺、导电浆料与金属化工艺,双面PERC测试标准与方法,24%以上效率PERC电池展望,单晶与多晶PERC电池LID和LeTID机理与解决方案,TOPCon技术及应用前景,PERC产线升级钝化接触技术的工艺方案等。
1.25%,还有少量不合格绒丝,占比0.05% 。
此外,铸造单晶以衰减小于单晶PERC作为其一大亮点。硅片氧含量6ppm,显著低于直拉单晶的12-13ppm,LID和LeTID均低于直拉单晶。不过张
淳介绍,鑫单晶的光衰数据较多晶相比略差,怀疑主要是鑫单晶峰值烧结温度较多晶更高所造成。多晶的LeTID控制已经有成熟的产业化技术,鑫单晶还需进一步优化。
而在成本方面,协鑫方面称,目前铸造单晶成本比
根据新的LeTID测试标准(2 PfG 2689/04.19),德国莱茵TV为一小组光伏组件供应商首次颁发了LeTID(热辅助光致衰减)证书,又名CID(电致衰减)证书。这一新测试标准已经历了约
两年的开发。
PV Tech一直都在做LeTID问题的专题报道,其中包括德国光伏研究所ISC Konstanz创始人之一Radovan Kopecek博士的详细见解以及隆基乐叶Meng Xiajie