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协鑫集成获颁TÜV莱茵全球首批LeTID测试标准认证证书来源:索比光伏网 发布时间:2019-06-04 09:51:41

6月4日,德国莱茵TV在上海SNEC展会期间正式发布了LeTID(光热衰减)标准,协鑫集成(002506.SZ)、晶科、天合等五家光伏行业顶级组件制造商成为全球首批获得基于TV莱茵内标 2 PfG
2689/04.19的 LeTID认证证书的企业。 协鑫集成组件研发部总经理郭奇志在颁证现场表示,获得全球首批LeTID标准认证表明协鑫集成鑫单晶组件具有优异的抗LeTID性能,协鑫集成已成为少数

莊英宏:西湖听风雨,东方旭日升来源:EnergyVoice 发布时间:2019-05-31 17:16:15

,能够有效降低电池的LID和LeTID。二是东方日升最新HDT异质结组件采用高效双面异质结电池技术,效率可达23%以上,并可为组件获得10%-30%的额外发电收益;功率温度系数绝对值可降低40%,高温环境

正泰新能源将携"ASTRO 4 For"系列400W+组件亮相上海SNEC太阳能光伏展来源:正泰新能源 发布时间:2019-05-31 14:56:52

:30-11:00携手人保十周年合作授牌仪式 11:30-12:00新品讲解 14:30-15:30TV莱茵颁发首个运维AAA级殊荣及全球首张LeTID证书 15:30-16:30正泰安能金屋顶一站式

晶硅组件新篇章—铸锭单晶技术来源:保利协鑫能源 发布时间:2019-05-31 08:52:21

专利目前尚未到期,而镓掺杂的铸锭单晶却没有此类知识产权风险。 鑫单晶G3 与直拉单晶硅片电阻率分布对比 四、电阻率分布与直拉单晶硅片相比氧含量更低,具有更佳LID及LeTID表现。 目前
一半左右(图5)。这意味着铸锭单晶电池的光衰一定优于直拉单晶电池。而对于LeTID,即高温光致衰减这一近年来在PERC电池中发现的独特现象,目前尚无明确的机理,公认为单晶、多晶都存在这一问题,其检测标准

多晶的低成本、单晶的高效率——铸锭单晶,平价上网时代的最佳选择来源:索比光伏网 发布时间:2019-05-30 12:26:06

LeTID表现。 目前绝大多数P型单晶或多晶皆采用硼掺杂,由于硼氧四面体会带来电池的光致衰减(LID),在同样电阻率、同样硼掺杂浓度的前提下,硅片中的间隙氧杂质含量就会成为影响电池衰减的重要因素。对比
铸锭单晶只有该数值的一半左右(图5)。这意味着铸锭单晶电池的光衰一定优于直拉单晶电池。而对于LeTID,即高温光致衰减这一近年来在PERC电池中发现的独特现象,目前尚无明确的机理,公认为单晶、多晶都

Q CELLS多元化Q.ANTUM DUO组件系列亮相2019年SNEC展会来源:索比光伏网 发布时间:2019-05-29 10:33:52

LID(光诱导衰减)和抗LeTID(光照和高温诱导衰减)性能,热斑保护和质量追踪Tra.QTM激光识别码,以防止伪造。Q.ANTUM DUO技术结合了精密的半电池切割技术和创新的焊线互连技术

创电池效率世界纪录的阿特斯新一代P5超高效组件即将亮相SNEC 2019!来源:阿特斯阳光电力集团 发布时间:2019-05-29 08:36:17

电池LeTID衰减机理、控制及测试 阿特斯阳光电力集团 许涛博士 光伏科学家大会分会3:晶硅光伏组件及质量保证 时间:6月5日9:15-9:30(周三) 地点:上海浦东嘉里大酒店,浦东大宴会厅5-7 演讲主题:促进电站度电成本下降的量产组件新技术

中国光伏行业最具影响力企业30家整合来源:黑鹰光伏 发布时间:2019-05-22 15:44:12

黑硅、多晶perc到独有的LID/LeTID控制技术,让一般企业难以望其项背;5. 老板舍得与核心团队分享企业发展利益,所以企业高管团队相对非常稳定。6.在国际上征战多年的瞿晓铧,早已摸清了国际市场的

阿特斯携新一代太阳能组件亮相德国慕尼黑国际太阳能展来源:阿特斯阳光电力集团 发布时间:2019-05-15 10:28:36

造型美观,耐遮蔽性能出色。对空间有限、存在遮蔽问题的户用及工商业屋顶系统来说,更具吸引力。 根据第三方测试数据,阿特斯单、多晶组件均表现出了优异的抗LeTID(光热衰减)性能。这让阿特斯成为少数几家
掌握了在大规模生产过程中减轻和控制LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一。LeTID是大多数高功率组件在高工作温度下普遍会出现的一种新的功率衰减现象。 截至2019年初,阿特斯已经成功向全球市场

供货125MW光伏组件!看中来打造全球最大N型双面电站来源:中来股份 发布时间:2019-05-13 14:51:34

具有更高的可靠性,尤其是像中东沙尘暴频繁天气,组件要经受几十年考验,可以说可靠性是组件很重要的考核指标,N型双面在此方面有着独特的优势。 抗LeTID(光热衰减) 2018年9月
Fraunhofer 在EU PVSEC发表的研究结果显示,市场上获取的商业组件都普遍存在LeTID。在组件工作温度超过50C时,组件都会发生LeTID(光热衰减)。导致LeTID衰减的机制包括氢致衰减、钝化衰减