EL
):测量晶硅太阳能电池的电学性能;
EL测试机:测试电池片质量。
1.2实验方法
实验一:在生产前对原硅片进行分选，实验分为3组，每组400片，分别进行实验工艺和正常生产工艺。实验工艺调整扩散推进温度
电池片在EL测试仪下测试，EL图像见图2。可以看出:无网结+晶银印刷的电池片无断栅虚印，无网结网版+杜邦则会有两三根轻微的断栅虚印，无网结网版+帝科有比较严重的断栅虚印。因此印刷性能:晶银杜邦帝科
；4、组件衰减：国能综新能（2015）51号文；5、EL：只分析，不判定；6、故障分析，统计比例；7、2段失配损失不大于3.0%；8、直流线损：建筑光伏技术规范（JGJ203-2010）2
效率链，还要有缺陷测试（IR，EL，二极管抽测），安全性测试（接地电阻、连续性、孤岛、电气间隙等），电网接入特性（电能质量、高低电压穿越、有功/无功等）。度电成本LCOE和财务内部收益率IRR
对电池片进行EL测试，以及在组件生产过程中进行两道EL测试， 并采用业界领先的1600W高清摄像头，来监控电池片的隐裂情况。；另一方面是控制产生隐裂，电池片的隐裂主要来自电池原片和产品撞击导致，改善
同时努力将尚德品质带进千家万户。不忘初心，砥砺前行致敬尚德情怀务实、高效、协作、创新是尚德人给我们的印象，在全行业EL测试都采用低像素检测时，尚德不遗余力，改造EL设备，在返工率很高的情况下，依然坚持
状况，并不能分析出具体的电池来;紫外荧光只能用于检测裂痕;红外热成像只能用来检测热斑。
比较高级一点的是电致发光(EL)或者光致发光(PL)高分辨率成像，裂痕、串阻、旁路二极管失效、光衰、PID
、CID都可以拿下。 在市面上已经有一些户外EL检测系统了，但受制于必须注入电流产生电致发光，所以接线比较复杂，而且受限于复杂的光照条件，一般这样的测量只能在夜间进行。而市面上并没有PL的检测手段，同样是
;紫外荧光只能用于检测裂痕;红外热成像只能用来检测热斑。比较高级一点的是电致发光(EL)或者光致发光(PL)高分辨率成像，裂痕、串阻、旁路二极管失效、光衰、PID、CID都可以拿下。 在市面上已经有一些
户外EL检测系统了，但受制于必须注入电流产生电致发光，所以接线比较复杂，而且受限于复杂的光照条件，一般这样的测量只能在夜间进行。而市面上并没有PL的检测手段，同样是因为光照条件的多变性所限。新南威尔士
，240W以上档位组件数量由修复前的13.82%提升到56.75%。
图3-3 不同功率档修复前后数量分布
经过PID修复，组件中因PID现象导致的电池片EL发黑情况也得到了修复，见图3-4
。
A、修复前 B、修复后
图3-4 PID修复前后EL图像对比
3.2、PID修复需要注意的若干问题
1)接地的可靠性：组件接地的可靠性至关重要，不然可能导致修复失败。
2) 环境温湿度
到了万分之一以下。除了严格把控硅片质量和厚度，在工艺制程和品管方面主要从下面几点出发。第一，加强追溯性，在生产、质量的配合下，将串焊机的单侧、层叠台、EL机器等岗位的组件进行一一对应，工艺设备人员及时进行
短时间内受到的冲击力；人员动作规范，如有按压到1*4位置需重新过EL，质量、工艺、生产领班工序长负责监督，确保执行到位； 针对十字隐裂，通过进行模拟实验，主要怀疑是由于锡堆、锡渣在层压后导致的；加强串焊
到了万分之一以下。除了严格把控硅片质量和厚度，在工艺制程和品管方面主要从下面几点出发。第一，加强追溯性，在生产、质量的配合下，将串焊机的单侧、层叠台、EL机器等岗位的组件进行一一对应，工艺设备人员及时
了组件短时间内受到的冲击力;人员动作规范，如有按压到1*4位置需重新过EL，质量、工艺、生产领班工序长负责监督，确保执行到位;针对十字隐裂，通过进行模拟实验，主要怀疑是由于锡堆、锡渣在层压后导致的;加强串
一以下。除了严格把控硅片质量和厚度，在工艺制程和品管方面主要从下面几点出发。第一，加强追溯性，在生产、质量的配合下，将串焊机的单侧、层叠台、EL机器等岗位的组件进行一一对应，工艺设备人员及时进行跟踪分析
的冲击力;人员动作规范，如有按压到1*4位置需重新过EL，质量、工艺、生产领班工序长负责监督，确保执行到位;针对十字隐裂，通过进行模拟实验，主要怀疑是由于锡堆、锡渣在层压后导致的;加强串焊、层叠、返工
