电致发光
潜在缺陷的方法为行业内广泛采用，文章基于电致发光（Electroluminescence）的理论，介绍利用近红外检测方法，可以检测出晶体硅太阳电池及组件中常见的隐性缺陷。主要包括：隐裂、黑心片、花片
转换效率和使用寿命有着严重的影响，严重时将危害组件甚至光伏发电系统的稳定性。为了提高组件的效率及合格率，并能够针对各生产环节中产生的缺陷情况及时调整维护生产设备，需配备大量的在线缺陷检测设备。电致发光（EL
，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。 电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。 如果
施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。 当被施加正向偏压之后
（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡
，即电致发光。当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式
，采用电致发光测试，符合IEC和UL标准。此外，HHV赢得一份订单，为美国一个10MW光伏项目提供组件，出货至明年四月。Chellappan还指出公司的几家主要客户，其中包括BHEL、SunEdison
Inspection of Crystalline Silicon Photovoltaic Modules/晶体硅光伏组件电致发光分类由阿特斯牵头编制 Doc 5768, New Standard
Silicon PV Modules /光伏组件电致发光缺陷测试仪技术规范由福建计量科学研究院提出会上委员会首次批准发布了3项中文版光伏标准如下： SEMI PV47-0513 Specification
Silicon Photovoltaic Modules/晶体硅光伏组件电致发光分类由阿特斯牵头编制
Doc 5768, New Standard: Specification
/光伏组件电致发光缺陷测试仪技术规范由福建计量科学研究院提出
会上委员会首次批准发布了3项中文版光伏标准如下：
SEMI PV47-0513 Specification
Silicon Photovoltaic Modules/晶体硅光伏组件电致发光分类由阿特斯牵头编制Doc 5768, New Standard: Specification for Testing
电致发光缺陷测试仪技术规范由福建计量科学研究院提出会上委员会首次批准发布了3项中文版光伏标准如下：SEMI PV47-0513 Specification for Anti-Reflective
院起草的光伏产业国际行业标准《光伏组件电致发光缺陷测试仪技术规范》（Doc5768,NewStandard:Specification for Testing Requirements
的！本项研究通过对寻访收集到的光伏组件进行电站现场和实验室测试，从电气性能、安全性能和机械应力三个方面对组件进行了性能评估。检测项目包括：外观检查、STC下的IV特性测试、电致发光特性、弱光响应、绝缘耐压
电参数的监控、电池片外观、EL的特殊检查也能有效地预防。关键词：丝网印刷 浆料 网版 EL一、引言随着EL（电致发光）检测技术在电池片和组件的生产过程中的普及应用，以及终端客户对光伏电池组件的外观和
