电致发光
上海太阳能工程技术研究中心HS1610C热斑耐久试验装置;光照前后的电池性能参数测量采用德国H.A.L.M高精度I-V测量系统;采用中导光电设备有限公司的FL-01一体机进行硅片的光致发光(PL)和电池的电致发光(EL
(PL)和电池的电致发光(EL)测量。 2.2试验样品及处理 样品采集相同电阻率(1～3)的铸锭多晶硅(MC-Si)及直拉单晶硅(CZ-Si)，测试其原料硅片各项参数并作相应记录;然后将样品经过相同
，可能会产生效率损失，但不必谈隐裂色变。3、检测隐裂的手段EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励
推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD
，从左到右的安装顺序。施工现场，应做到严格按照施工规范要求执行，确保夹具或螺丝固定在正确的安装位置并拧紧。三、组件隐裂的检测EL(Electroluminescence电致发光)是检测光伏组件隐裂简单有效的
方法。其原理如下：晶体硅电池外加正向偏置电压，电源向太阳电池注入大量的非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子的不断复合而发光，利用CCD(CMOS)相机捕捉这些光子，通过计算机处理后
，组件中2/3的斜条纹对组件的功率稳定没有影响。因此，当组件中的电池片出现隐裂后，可能会产生效率损失，但不必谈隐裂色变。
3 检测隐裂的手段
EL(Electroluminescence，电致发光)是
，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合)，复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。
当被施加正向偏压之后
越化学工业共同开发。是采用以硅橡胶制成的片状新材料封装而实现的。耐冲击强度也提高 钢球跌落试验前后的相对输出和电致发光图像该电池板未使用以往晶体硅型电池板采用的易燃性有机材料及厚重的玻璃基板
重量。耐冲击强度也提高了。此次的电池板，以钢球跌落试验作了评估。让钢球(直径38mm，重量约225g)从高1m的位置落到电池板表面3次，评估了试验前后的输出功率和电致发光特性，采用以往构成的电池板
快速、准确地表征组件内部缺陷，对控制组件质量，保障电站的可靠运行具有重要意义。 EL测试仪原理即电致发光(ElectroluminescenceEL)测试原理是根据半导体辐射复合释放光子的特点，对组件
快速、准确地表征组件内部缺陷，对控制组件质量，保障电站的可靠运行具有重要意义。 EL测试仪原理即电致发光（ElectroluminescenceEL）测试原理是根据半导体辐射复合释放光子的特点，对组件
测试方法等几个方面，对EL测试仪做详细介绍。 一、EL测试仪原理 电致发光(ElectroluminescenceEL)测试原理：根据半导体辐射复合释放光子的特点，对组件施加正向电压注入非平衡
实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。同时，生产出的所有组件经质量全检及电致发光（EL）检测，确保
