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近年来发现的组件光热诱导衰减现象(LeTID)成为当下组件技术人员的新关注。目前在电站现场观察到高达7%的衰减率。关于LeTID的测试讨论已经很多，不少认证机构已经开始开展这一项目测试服务。正如
多年前的PID测试序列一样，最终形成一个统一的IEC规范可能有好几年时间。如何设计一种光照和温度序列能够更好地进行LeTID测试，将是今后数年都要持续讨论和验证的问题。 1.LeTID定义

衰减(LeTID，Light and elevated-Temperature Induced Degradation)检测方法：该测试从之前的IEC 61215-2标准提案中被独立出来，此次会议
正式作为新提案开始标准制定工作。该标准挑战是如何正确的区分LID与LeTID的衰减，还需要大量的测试与研究工作。其他：会议中，还进行了下列讨论与提案：准备更新IEC TS 62915重测导则

，尤其是采用微导专利的ALD镀膜技术，PERC电池在抗LeTID的性能上具有显著的提升作用。有意思的是，这个结果是和现有PERC电池采用PECVD背钝化工艺相比较下得到的。他们通过对下面的实验结果进行对比
得出结论，ALD和PECVD镀膜技术在降低LeTID衰减中的有着明显不同的表现。根据新南威尔士大学的分析，其原因在于ALD 三氧化二铝薄膜具有高质量，致密无针孔的特性，可以有效阻挡氮化硅薄膜中的

。他指出，与现有的PECVD背钝化工艺相比，采用微导专利的ALD镀膜技术的PERC电池在抗LeTID方面具有更加优异的性能。ALD和PECVD镀膜技术在降低LeTID衰减中的有着明显不同的表现，根据黎微明
的分析，其原因在于ALD 三氧化二铝薄膜具有高质量，致密无针孔的特性，可以有效阻挡氮化硅薄膜中的氢原子向电池内部的扩散，从而减少LeTID衰减。而PECVD氧化铝薄膜由于存在较多缺陷和针孔，无法阻挡

行业广泛接受。就在最近，PVEL决定，将光伏组件最新测试项目LeTID列入其PQP测试序列。图1：PVEL最新PQP测试序列图2：PQP测试序列中LeTID测试步骤据业内专家介绍，高温
辅助光致衰减(LeTID)几乎已经取代了电势差诱导衰减(PID)，成为投资者和资产所有者必须避免的最新、最新的衰减形式。 PVEL研究发现，LeTID在户外已经造成了高达5%的功率衰减，这几乎完全