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，组件功率衰减仍低于1%。发电表现测评在该项目中，天合光能获得了PAN file测试、光致衰减(LID)和光热诱导衰减测试(LeTID)的高分。其中，panfile测试显示
天合组件产品的综合系统效率(Performance ratio，简称PR)高于85%。经光致衰减(LID)测评，天合组件产品在检测的所有品牌产品中，得分位居前十位。而光热诱导衰减测试显示，通过486

(PV)器件的等效电池温度(ECT) IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试 IEC
晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp) 目前草案处于CD准备阶段，即将提交高温辅助光致衰减(LETID)是导致多晶硅光伏电池及PERC组件衰减的

，因此无光致衰减效应;2)温升损失低。受益于高开路电压，HJT电池温升系数低于PERC电池;3)双面率高。HJT电池具有高度对称结构;4)弱光效应。HJT少子寿命更高，在弱光下发电量更大。根据梅耶博格的
印刷流程中的碎片率，未来有望成为多主栅/无主栅、以及薄片化组件的匹配性技术。 ► 整体电池环节：光注入。在PERC电池中，光注入工艺(电池完成后加光加热)有助于减少光致衰减。HJT电池无光衰效应，但

异质结电池具有转换效率高、制造工艺简单、薄硅片应用、温度系数低、无光致衰减和电位衰减、可双面发电等一系列优势。目前，异质结电池的最高效率已达26.63%。异质结电池实现低成本量产的关键在于设备国产化

光伏器件第5部分：用开路电压法确定光伏(PV)器件的等效电池温度(ECT) IEC 63109 通过电致发光成像定量分析测量的二极管理想因子IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减
(LETID)测试：检测 IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测材料及零部件标准 IEC 62788-1-1 ED1 光伏组件用材料测试程序第1-1

增益率分别约为 3%、 8.29%、11%。 N 型技术路线转换效率提升空间大，同时具备光致衰减低、弱光相应好等优势。P-PERC 电池背面激光开槽处金属接触区域增加额外的复合电流。与 P-PERC
25.5%，提升幅度均大于 P 型电池。此外，N 型电池使用 N 型硅衬底代替 P 型硅，具备零光致衰减、弱光效应好以及组件稳定性高等特点。 N 型路线产业化顺利，未来有望快速推广。近年