相对大。
b. 使用检测设备:用EL-C;
c. 分析判断方法:
使用破坏测试,先沿着栅线处断开,然后用EL-C 测试栅线与氮化硅膜接触面,利用图象来分析判断,如果栅线内部结合不紧凑有空 ,期待与您共同进步。1. 电性能偏低原因分析
1.1开路电压UOC偏低
a. 烧结烧穿;
b. 未扩散片;
c. 湿刻放反片;
d. PE 放反片;
e. 来料黑心片;
f. 污染片
定的状态。这是粉末系统在高温下能烧结成密实结构的原因。
4.2 烧结目的
a. 燃尽金属浆料中的有机成分;
b. 烧穿绝缘的氮化硅膜,使浆料中的金属和硅熔融合金,形成欧姆接触;
c. 对经过 氮化硅表面颜色应该均匀,无明显的色差;
b. 电极无断线;
c. 背场无铝珠;
d. 电池最大弯曲度不超过1mm。