PID现象

隐裂、热斑、PID效应，是影响ink"光伏组件性能的三个重要原因，近期为大家所关注。之前的文章中，对热斑、PID效应效应进行了介绍，今天来说一下隐裂。　　1、什么是隐裂？隐裂是电池片的缺陷。由于
图4：隐裂片图中中间扭曲是因为组件尺寸太大，图像采用了拼接方式，属于正常现象。图5：正常组件EL

PID现在是光伏界的流行词，很多人常常提起。然而，PID产生的原因是什么，应该如何避免呢？ 1什么是PID？ PID的英文全称是：Potential Induced
Degradation，即电势诱导衰减。 2005年美国SunPower公司首次发现并提出PID效应，自此，光伏界同仁开始关注PID的研究和讨论；近年来，随着光伏应用的大规模铺开，PID频繁进入大家的视线

迁移，而造成组件性能衰减的现象，实际应用中发现衰减比例严重时可达70%。而Zeverlution Pro系列内置Anti-PID 模块，传承了SMA Offset box专利技术，不仅节省用户安装
防雷和光伏组件PID修复等重要功能。 PID(Potential Induced Degradation)，意为电势诱导衰减。在高温高湿的环境里，电池片与其接地金属边框之间在高电压作用下会出现离子

韩国国内首次采用这种系统。由于是水上这种高湿环境，所以不但采用了对PID（Potential-Induced Degradation，电位诱发衰减）现象施以对策的电池板，还导入了抑制PID的机制。因高

水蒸气，如果水汽深入组件，那么封装材料（ENC）的导电率上升，相应组件的泄漏电流增大，会造成组件表面极化现象，即PID效应。因此组件在高湿或高温环境的光伏系统尤其是渔光互补光伏系统、沿海光伏系统、赤道附近的
物体的污染程度，也与上述衰减现象的发生有关。到目前为止，形成机理还不是太明确，推测来自于钠钙玻璃的金属离子是形成上述具有PID效应的漏电流的主要载流介质。内部可能原因：系统方面：逆变器接地方式和组件在

水蒸气，如果水汽深入组件，那么封装材料（ENC）的导电率上升，相应组件的泄漏电流增大，会造成组件表面极化现象，即PID效应。因此组件在高湿或高温环境的光伏系统尤其是渔光互补光伏系统、沿海光伏系统、赤道附近
、碱性以及带有离子的物体的污染程度，也与上述衰减现象的发生有关。到目前为止，形成机理还不是太明确，推测来自于钠钙玻璃的金属离子是形成上述具有PID效应的漏电流的主要载流介质。 内部可能原因： 1

双玻使用有待于进一步研究。提到双玻组件可靠性，最关键是抗PID性能，双玻没有边框，在接地部件方面可以节省。这是双玻组件使用金属箔对双玻组件包裹后，进行PDD85/85，600小时测试，可以看到在PID上
实验验证。玻璃透水率是零，防止EVA老化，产生蜗牛纹、黑线现象的概率更小。双玻组件不积灰不积雪的特性，易清洗管理，可以减少运维费用。 抗隐裂性实测，山地有微起伏，组件不一定是在一个

材料，长期户外不降解耐磨损，抗腐蚀性大大增强，且玻璃水率几乎为零，从根本上杜绝PID现象产生，防止EVA老化，产生蜗牛纹现象的概率也更小，安装快捷，节省人力成本，减少边缘积灰。 第三是项目在建

在网上大家随处可见一些光伏组件异常的照片，例如，图1电站着火、图2接线盒烧焦、图3PID失效、图4蜗牛纹现象、图5隔离条发黄、图6背板脱层等等。大家都知道，太阳能光伏产品进入市场基本上都是通过
《CQC3303-2013地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试-高寒气候条件》等测试标准。这些均说明光伏组件的检测标准还是不够全面，无法通过测试证明组件各项指标的长期可靠性。针对图3中PID失效案例目前只有一个草稿

在网上大家随处可见一些光伏组件异常的照片，例如，图1电站着火、图2接线盒烧焦、图3PID失效、图4蜗牛纹现象、图5隔离条发黄、图6背板脱层等等。大家都知道，太阳能光伏产品进入市场基本上都是通过
光伏组件的检测标准还是不够全面，无法通过测试证明组件各项指标的长期可靠性。针对图3中PID失效案例目前只有一个草稿文件，而针对图4失效的案例目前并没有任何检测标准。三、认证组件不具有代表性第三方测试费用昂贵