LeTID衰减
2000小时、静态机械载荷+动态机械载荷+热循环50次+湿冻10次、电位诱导衰减测试PID192小时，光热诱导衰减测试LeTID测试，以及PAN & IAM profile发电量模拟测试和户外实证，并在
(光致衰减)与LeTID(光热致衰减)问题，结合多主栅、半片技术，组件的可靠性得到提升。晋能科技还推出PERC双面组件，在不同环境下，组件背面可产生5%-25%的额外发电量，同时该组件可选择透明背板
集中式地面电站开展了组件抽检测试服务，帮助客户对组件功率衰减、隐裂等缺陷情况进行了评估，对客户的运维、技改等工作起到了支持和指导作用。实验室检测项目上，PV Test实验室目前拥有组件功率测试仪、EL
测试仪、LID+LeTID光衰平台等大型设备10余台套，能够开展光伏组件的性能测试、环境模拟测试和老化测试试验。
陕西众森电能科技有限公司依靠强大的研发团队
) modules: Detection 晶硅光伏组件高温辅助光致诱导衰减测试
目前状态：CD草案将于本月提交。
- 正式写法统一为LETID。- 升温条件: 当温度达到要求时再通入电流。- 对标准中的
-电势诱导衰减测试方法第2部分：薄膜组件
目前状态：DTS准备中。
针对薄膜组件的PID测试，提出了环境箱和户外测试相结合的方法，其中环境箱测试可以选择无辐照不通电的条件或者加光照及通电流的条件
是否继续，如果2个循环之后，功率衰减超过3%，可能还需要进行第3个循环来检查组件最大的LETID功率衰减程度。 定义如果功率衰减超过3%为LETID敏感组件，具体计算时需要和IEC 61215一样
(PV)器件的等效电池温度(ECT)
IEC 60891 光伏器件 I-V实测特性的温度和辐照度修正方法
IEC 63342晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试
IEC
晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp)
目前草案处于CD准备阶段，即将提交
高温辅助光致衰减(LETID)是导致多晶硅光伏电池及PERC组件衰减的
(LETID)测试：检测 IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试：检测 材料及零部件标准 IEC 62788-1-1 ED1 光伏组件用材料测试程序 第1-1
，组件的各类新型可靠性测试需求呼声极大，诸如由电位差引起的功率衰减(PID)、光热衰减(LeTID)，由动态负荷引起的组件功率衰减和机械强度失效等。 然而，在新的技术及产品逐渐占据整个光伏市场的环境下
机构验证认可。经CTC海南户外实证(湿热气候)及TUV北德宁夏户外实证(干热气候)，衰减率成绩亮眼，加之全面升级质保等，组件性能具有高可靠性。凭借ASTRO系列组件出色的高可靠性和低衰减性，正泰新能源
，并完美匹配主流跟踪支架的安装应用。在电池片工艺方面，正泰新能源Super PERC+3.0电池技术通过掺镓工艺处理有效降低LeTID及LID损失，同时应用最新的印刷优化、正面钝化、LDSE3.0、新
等多家光伏行业第三方机构验证认可。经CTC 海南户外实证(湿热气候)及TUV北德宁夏户外实证(干热气候)，衰减率成绩亮眼，加之全面升级质保等，组件性能具有高可靠性。凭借ASTRO系列组件出色的
高可靠性和低衰减性，正泰新能源四次荣获PVEL/DNV GL Top Performer 顶级组件制造商荣誉。其中，AstroTwins 双面系列组件在每项PQP测试序列中均获得 Top
