I-V曲线

二极管的反向饱和电流。综上组件的电流正比于光辐照强度，电压与光辐照强度成对数关系。图2 不同辐照强度下组件的I-V和功率曲线组件在不同辐照强度下的I-V曲线和功率曲线如图2所示，从图中可以看到组件的

、电压U、电流I。 图 2 仿真模型 1.2 仿真模型验证 以JA Solar 公司的143-7615光伏组件为例，对仿真模型进行验证如下。 (a) I-V曲线
P-V曲线的全局最大值为阵列工作点。通过研究发现，含两种特性的组串，其串联I-V特性曲线上会出现阶梯，P-V特性曲线上会出现双波峰。其中在P-V特性曲线的左侧波峰时，被遮模块被旁路二极管旁路，不再工作

）又称电势诱导衰减，是电池组件的封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。 下表为组件PID效应测试前后的参数及I-V曲线

）又称电势诱导衰减，是电池组件的封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。下表为组件PID效应测试前后的参数及I-V曲线对比【1

）又称电势诱导衰减，是电池组件的封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。下表为组件PID效应测试前后的参数及I-V曲线对比【1
】，通过对比明显可以看出PID效应对太阳能电池组件的输出功率影响巨大，是光伏电站发电量的恐怖杀手。功率对照表I-V曲线（PID效应测试前）IV曲线(PID效应测试后)2、为什么会发生PID效应？通过

诱导衰减，是电池组件的封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。下表为组件PID效应测试前后的参数及I-V曲线对比【1】，通过

组件I-V曲线、汇流箱绝缘、连续性、接地、损耗、红外，逆变器效率、谐波，以及每日辐照度测试等项目。电站检测组为保证项目按时完成验收，在阳光曝晒并且伴随沙尘暴等恶劣气候下，每日平均持续工作10个小时以上

检测主要包括组件I-V曲线、汇流箱绝缘、连续性、接地、损耗、红外，逆变器效率、谐波，以及每日辐照度测试等项目。电站检测组为保证项目按时完成验收，在阳光曝晒并且伴随沙尘暴等恶劣气候下，每日平均持续工作10

电站检测主要包括组件I-V曲线、汇流箱绝缘、连续性、接地、损耗、红外，逆变器效率、谐波，以及每日辐照度测试等项目。电站检测组为保证项目按时完成验收，在阳光曝晒并且伴随沙尘暴等恶劣气候下，每日平均持续