做了功率衰减的检测,从2008年来时的组件数据看,在0.7%的衰减率之内。功率衰减的内部原因,短期衰减主要跟电池相关,主要是PID,LID衰减。而长期衰减主要来自于封装材料,造成黑斑,黑线,背板开裂等
组件数据看,在0.7%的衰减率之内。功率衰减的内部原因,短期衰减主要跟电池相关,主要是PID,LID衰减。而长期衰减主要来自于封装材料,造成黑斑,黑线,背板开裂等可靠性问题。材料的老化以及引起EVA脱层
年来时的组件数据看,在0.7%的衰减率之内。功率衰减的内部原因,短期衰减主要跟电池相关,主要是PID,LID衰减。而长期衰减主要来自于封装材料,造成黑斑,黑线,背板开裂等可靠性问题。材料的老化以及引起
(黑芯或黑斑片)8、隐裂电池片组件中存在隐裂的电池片,其功率相对正常同规格组件功率稍低,在长期的使用过程中,隐裂纹加剧延伸,造成更多面积从组件电路上减少,同时会引起热斑效应,引起组件热斑,甚至烧毁。图
材料过冷必然掉苞。看起来完整收尾,实际早已掉苞,这样上返一个直径的单晶已是位错片。供应商把这些位错片完全轻而易举转嫁给用户。2.0黑斑片电致发光EL(Electroluminescence)照片中黑心
片和黑斑片是反映在通电情况下该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心和黑斑。发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。图1黑芯片(左)与黑斑片(右)组件电性能测试如下图所示。由图可见,组件
,未出现黑斑、微小裂缝,而且仍能保持负重前的最大输出功率。由此可见Multisol Vitro组件可以承受超大负重,甚至人往上跳也能丝毫无损。有了稳定性,Multisol Vitro组件就能有效抵挡室外
太阳能电池的制造和外观等也具有很重要的影响。一、组件EL和电性能测试通过对大量低效太阳能电池片及光伏组件进行研究,某低效太阳能电池片做成的光伏组件其EL测试如图1所示。光伏组件的电池片中存在着大量黑心和黑斑的
情况。图1光伏组件EL测试电致发光EL(Electroluminescence)照片中黑心和黑斑反映的是在通电情况下该部分发出的1150nm红外光相对弱,故在EL相片中显示为黑心和黑斑,发光现象和硅
缺陷种类二:黑团片多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体定向凝固时间,熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位错缺陷。缺陷种类二:黑团片缺陷种类三:黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染
所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度107个/cm2,黑斑边缘区域位错密度106个/cm2均为标准要求的1000~10000倍这是相当大的位错密度。缺陷种类三