图像分析

本文描述了晶体硅太阳能电池片局部漏电现象，分析了晶体硅硅片及电池生产过程中可能产生的漏电原因及预防措施。电池生产过程中刻蚀不完全或未刻蚀、点状烧穿和印刷擦片或漏浆等情况会产生漏电，严重影响电池片的
多晶铸锭的质量很大程度上可以影响晶体硅电池片的质量。随着晶体硅电池利用的日益广泛，晶体硅太阳电池局部漏电问题逐渐受到人们的关注与重视。因此晶体硅电池漏电原因的分析与讨论成为晶体硅电池研究的热点之一。在晶体硅

混合陷光结构。 1、分析 图1所示的是薄膜硅太阳能电池的结构示意图。电池正面是半径半球形TiO2颗粒，前电极是ITO导电层，吸收层是单晶硅，电池背面是镶嵌着半球形银颗粒的ZnO：Al背电极和一层银
。金属银颗粒能将透射过电池的光反射会吸收层，从而增强对长波段光的吸收。 如图（g）（h）所示的就是金属银颗粒对透射光的反射作用，形成了一种周期性的布洛赫衍射振荡图像。图（e）（f）所示的是背面没有

混合陷光结构。1、分析图1所示的是薄膜硅太阳能电池的结构示意图。电池正面是半径半球形TiO2颗粒，前电极是ITO导电层，吸收层是单晶硅，电池背面是镶嵌着半球形银颗粒的ZnO：Al背电极和一层银反射镜
吸收。如图（g）（h）所示的就是金属银颗粒对透射光的反射作用，形成了一种周期性的布洛赫衍射振荡图像。图（e）（f）所示的是背面没有金属银颗粒的电池，其图像是典型的法布里帕罗振荡。从电场图中可以看出

衰减。1、组件初始光致衰减分析1.1、组件初始光致衰减原理分析组件初始光致衰减（LID）是指光伏组件在刚开始使用的几天其输出功率发生大幅下降，之后趋于稳定的现象。普遍认为的衰减机理为硼氧复合导致，即由p
大。1.2、组件初始光致衰减的实验分析本研究采用对比实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。同时，生产

、组件初始光致衰减分析1.1、组件初始光致衰减原理分析组件初始光致衰减（LID）是指光伏组件在刚开始使用的几天其输出功率发生大幅下降，之后趋于稳定的现象。普遍认为的衰减机理为硼氧复合导致，即由p型（掺
、组件初始光致衰减的实验分析本研究采用对比实验的办法，在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下，采用两组电池片（一组经初始光照，另一组未经初始光照），分别将其编号为I和II。同时，生产出的

挂载容量：对场站的逆变器进行加和，进而得到整个场站的实际容量：这样我们得到了一个清晰而准确的电站拓扑结构图。这样的一个清晰、准确的拓扑结构图是电站数据化的基础，也是所有数据统计与分析、发现问题并进
行运行维护的基石。没有这样一个清晰的拓扑结构与容量关系，所有的数据分析与结论都是空中楼阁，经不起推敲。在电站数据化的过程中，不准确、甚至没有拓扑结构图会导致很多应用无法继续进行，例如：无法准确确定电站的

起来；同样是将光伏与互联网相结合，Google的Project Sunroof项目则协助有意安装屋顶太阳能项目的潜在客户，用户可通过高分辨率卫星图像、Google地图数据以及自己家周围的相关数据，评估
提供的电力大数据，进行用电预测及分析，以优化需求侧管理；Opower目前为近100家公用事业公司管理着超过1，000万个家庭和商户的账单，基于用户的用电消费数据，分析用户用电行为，从而为用户提供节能

热斑、隐裂、人为破损等质量问题的大面积出现，影响了光伏电站整体高效稳定运行。本文结合国家相关规范要求及光伏组件安装实际情况，对光伏组件常见质量问题进行分析，对光伏组件安装质量控制进行总结，旨在从管理层
过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。光伏组件在出厂前会进行EL成像检测，所使用的仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的