光学晶体

成品测试三、晶体硅太阳电池组件原材料检验1电池片STC下的效率测试（细分）STC下的定电压电流分选非STC下的定电压电流分选依据并联电阻分选逆电流测试微裂纹检查光学色差分类机械性能的一直性（弯曲、厚度
、晶体硅太阳电池组件的光学损失分析封装材料反射引起的光学损失AM1.5,≦0.38um的能量占3.03%图20太阳光谱图21玻璃透过率七、晶体硅太阳电池光伏组件电学损失分析 八、晶体硅太阳电池光伏组件工厂建设和运营1设备及工装2人员3材料成本4损耗

可以减少，简介降低了生产成本。本文分别从光学损失和电学损失两方面分析和讨论了可能影响封装损失的因素，得到了一些初步的结论，可为组件公司提高产品性能提供参考。另外我们只针对组件封装时的功率损失进行了研究
内量子效率曲线图5 白色TPT的反射率曲线封装损失的分析常规晶体硅太阳电池组件的封装结构如图1所示，自上而下的顺序分别是钢化玻璃-密封胶-晶体硅太阳电池-密封胶-背板；封装之前的单焊、串焊工艺将电池片通过涂锡

作者 ： 王祺、倪志春、任方星、赵建华、王艾华，中电电气南京光伏有限公司研发中心摘要晶体硅太阳电池封装成组件后，其实际功率通常会小于理论功率，称之为功率损失或封装损失（powerloss）。本文对
损害。反之，如果能够降低封装损失，组件输出功率的增加也会带来收益的提高，组件配置的电池片所需效率可以减少，间接降低了生产成本。本文分别从光学损失和电学损失两方面分析和讨论了可能影响封装损失的因素，得到

索比光伏网讯:作者 ： 王祺、倪志春、任方星、赵建华、王艾华，中电电气南京光伏有限公司研发中心　　摘要:　　晶体硅太阳电池封装成组件后，其实际功率通常会小于理论功率，称之为功率损失或封装损失
投诉，对组件公司产生不良影响，造成经济损害。反之，如果能够降低封装损失，组件输出功率的增加也会带来收益的提高，组件配置的电池片所需效率可以减少，间接降低了生产成本。 　　本文分别从光学损失和电学损失

。现在还有一种想法在硅电池上面，在晶体硅上面做低化铬电池，变成两节电池，效率又提高了，这个理论效率可以到40%，晶体硅上面长低化铬，这样变成双节电池，里面效率可以到40%，这个都有专利，都有他们的实验
锡非常有前途，但是非常难做，硅最好做，低化铬第二。而且它生长的时候非常困难，它生长能够长好它的晶体，它生长条件的窗口非常窄，但是现在还是有好多地方做的很好，比如说效率19.4%，组件的效率可以到

光伏电池制造商公司是行业内少数在晶硅电池组件领域获得三大认证的公司公司是最早获得德国TUV认证和国际IEC认证的国内晶体硅太阳能电池组件制造商之一，并获得美国UL认证，成为行业内少数几个在主要太阳能电池
应用市场同时在单晶硅、多晶硅太阳能电池组件领域获得三大认证的公司之一，在国内晶体硅太阳能电池组件行业处于领先地位，意味着公司的产品可以在国际市场上自由销售，为公司实施全球市场拓展战略打下坚实的基础

、维护和发展方向。1晶体硅表面减反射及其制绒原理3.1．1晶体硅表面减反射原理在太阳电池中，其能量的损失有两种类型：光学损失和电学损失，其中光学损失主要体现以下３种方式：１．硅表面的反射损失，经处理的

设备将在上海2012SNEC上展出。SCHMID提供就整个硅片生产过程（从晶体生长到校验到分类）完善的整体解决方案。该检测分选机在SCHMID硅片的后段清洗线进行动态检测，该后段清洗线也包括其他上游的
/小时）、在软件的协助下追踪单个硅片、方便测试。贯穿不同的设备，可靠的硅片追踪方法对于硅片在晶柱中及生产过程中的位置的可追踪性而言是十分必要的。所有的设备都适用于多晶硅硅片和单晶体硅片，也可结合金钢线切片

）、深紫外到中红外极宽波段内（0.25~11 m）的高透过率等优异光学特性。论文中进而把纳米非晶球组装成薄膜涂覆在太阳能电池Si片表面，测试表明能够显著减小入射光的反射损失（可减小53%），从而
、光子晶体等诸多领域均具有广阔的应用前景。此外，近年来项目组围绕液-固相变过程与界面调控这一方向，在相变储热材料的研究也取得重要进展，前不久李建强老师受邀在Materials for Energy

缺陷态(深能级)，这种缺陷态会影响a-Si∶H薄膜材料的费米能级Ef的位置，从而使电子的分布情况发生变化，进而一方面引起光学性能的变化，另一方面对电子的复合过程产生影响。这些缺陷态成为电子和空穴的额外
复合中心，使得电子的俘获截面增大、寿命下降。在a-Si∶H薄膜材料中，能够稳定存在的是Si-H键和与晶体硅类似的Si-Si键，这些键的键能较大，不容易被打断。由于a-Si∶H材料结构上的无序，使得一些