光伏咨询搜索-索比光伏网

太阳能电池两面形成电路或电极。方阻测试仪:四探针方阻仪(GP4-TEST)测量扩散后的方阻值; 光学显微镜:测量丝网印刷后硅片的栅线宽度; 太阳能电池检测仪(BERGERLichttechnik
电池片在EL测试仪下测试，EL图像见图2。可以看出:无网结+晶银印刷的电池片无断栅虚印，无网结网版+杜邦则会有两三根轻微的断栅虚印，无网结网版+帝科有比较严重的断栅虚印。因此印刷性能:晶银杜邦帝科

索比光伏网讯:10月20日，由国家光伏产业计量测试中心起草的福建省地方计量校准规范《光伏电池型太阳辐照度测试仪校准规范》通过专家验收。验收现场电池片型太阳辐照度计广泛用于光伏电站、便携式I-V特性
计的准确测量是开展相关校准工作以及正确评估光伏电站发电效率的基础。该校准规范制定的校准项目和方法覆盖了光伏电池型太阳辐照度测试仪的主要特征参数，为国内首次制定，填补了国内该类设备校准方法的空白。原标题:国家光伏产业计量测试中心一项校准规范填补国内空白

氮化硅薄膜的折射率为2.15左右,厚度为25nm,第三层氮化硅薄膜的折射率为2.0以内,厚度为50nm。 PECVD镀完膜厚,通过反射率测试仪分别对采用双层和三层氮化硅膜工艺的实验片在波长300
～1200nm之间进行反射率测试,用WT2000少子寿命测试仪分别对采用双层和三层氮化硅膜工艺的实验片进行少子寿命抽测,抽测样片数量为实验总片数的10%。最后经过丝网印刷制作背电场及前后电极并进行烧结

组件普通用户肉眼也很难区分，有条件的用户可以使用便携式EL测试仪器进行现场检测，分布式或者居民屋顶光伏项目可以通过看组件出厂EL图片来辨别。对于李先生的担心，东方日升新能源股份有限公司组件技术部经理袁华知介绍，除了用仪器检测，随着时间的延长，隐裂严重的组件电池片外观上也会出现些许变化。

硅片各20 片在Maia 2.1 设备中进行背钝化膜沉积，管式PECVD 沉积正面氮化硅减反膜，最后通过激光消融和丝印烧结制备成PERC 电池。采用D8-4 型反射率测试仪测试刻蚀后的硅片背面反射率
片，将其烧结后利用Sinton WCT-120 少子寿命测试仪测试有效载流子寿命;采用H.a.l.m. cetisPV-IUCT-1800 测试机测试电池效率。结果与讨论 2.1 表面反射率

光伏行业还有一个亟需突破的方面在于光伏装备以及仪器的生产。因为，我们目前所用的生产装备、测试仪器、包括工艺路线的很多原创性工作都是西方人首先开展的，如果太阳电池工艺发生了革命性的变化，我们会措手不及，届时又需要

) 01 CGZB-2017-004-001-001 第01标段：IV测试仪定制采购标定精度 Isc, Voc, FF, Eff 0.5% 重复性测量精度 Isc, Voc, FF, Eff
使用、硬件设备操作的相关培训三、投标人资格要求招标编号标段名称专项资格 CGZB-2017-004-001-001 第01标段：IV测试仪定制采购 1.投标人注册资金为500万元(含

、氧化、光刻、等离子刻蚀、PECVD化学汽相沉积、烧结、真空蒸发镀膜、RF溅射镀膜和离子束溅射镀膜等，还备有一些常规的半导体、薄膜及太阳电池测试分析手段，如四探针Hall效应测试仪、高频、准静态C-V
测量仪、太阳电池I-V特性测量仪、椭圆偏振光测厚仪等。自行研制的太阳电池组件测试仪和优质低成本透明导电薄膜达国际先进水平。已在国内外发表五十多篇学术论文，十多项专利技术。研究所为教育部太阳能发电及制冷