相对大。
b. 使用检测设备:用EL-C;
c. 分析判断方法:
使用破坏测试,先沿着栅线处断开,然后用EL-C 测试栅线与氮化硅膜接触面,利用图象来分析判断,如果栅线内部结合不紧凑有空 ;对于方阻小的就要进行破坏测试,先去除氮化硅膜,然后测试方阻来确定;
2.15 湿刻过刻
测试指标表现为:短路电流偏小、串联电阻偏大、并联电阻偏小、暗电流偏大;
a. 备注说明:正常
覆盖一层氮化硅膜作为保护层。为使背面金属电极与硅形成良好的欧姆接触,需要对钝化层进行刻蚀,目前主流工艺采用激光开槽的方式来完成这一工序。
PERC 技术日趋成熟 以及特殊的边缘隔离,提升了制造的成本和复杂性,而离子注入可实现单面掺杂,均匀性好,可简化制造流程。表 面钝化方面,背表面采用氧化硅/氮化硅叠层钝化膜可以起到良好的表面钝化和场钝化效果,正表面使用
定的状态。这是粉末系统在高温下能烧结成密实结构的原因。
4.2 烧结目的
a. 燃尽金属浆料中的有机成分;
b. 烧穿绝缘的氮化硅膜,使浆料中的金属和硅熔融合金,形成欧姆接触;
c. 对经过 等离子轰击的硅片退火,激活掺杂的原子,消除晶格损伤;
d. 激活氮化硅膜(SiNx.H)中的氢离子,使之钝化硅片内部晶格缺陷。
4.3 正银烧结效果图
4.4 背场烧结效果图