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全面！精准！鉴衡认证为您带来IEC TC82 WG2 2021秋季会议最新标准信息！

来源：索比光伏发布时间：2021-11-01 11:19:28

IEC TS 62804-2 ED1光伏组件电位诱导衰减的测试方法第2部分：薄膜(项目组长Peter Hacke) 目前已提交DTS草稿此标准是针对薄膜光伏组件的PID衰减的测试方法。

CGC

光伏电池板修复“神器”（Smart-PID BOX）

来源：索比光伏发布时间：2020-10-16 09:22:37

这些引起衰减的机理被称之为电位诱发衰减(即PID效应)。 Smart-PID Box的作用消除光伏组件因为PID效应导致的的能量流失。

隆玛科技

英利多晶系列光伏组件通过TUV南德意志集团PID测试

来源：索比光伏发布时间：2018-02-02 14:13:29

作为世界领先的专业第三方认证机构，TUV SUD 在光伏行业的业务范围遍及晶体硅光伏组件、薄膜光伏组件、聚光光伏组件、并网逆变器、光伏电站检验与验收，以及光伏零部件等众多领域，致力为国内的光伏企业提供一站式的服务

英利

天合光能获得TÜV NORD、SGS和 PVEL三家机构认证

来源：索比光伏发布时间：2018-02-02 14:13:28

试验结果表明天合光能的光伏面板在沙尘暴和强风环境下仍可正常工作。另外，天合光能的光伏面板最近还获得了美国太阳能组件测试实验室 (PVEL)颁发的电位诱发衰减测试（PID）认证。

TÜVNORD

给你讲光伏组件的那些事儿

来源：索比光伏发布时间：2016-11-24 10:53:29

光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。 1功率衰减测试光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少?

光伏组件

让你全方位了解太阳能光伏组件

来源：索比光伏发布时间：2016-09-18 10:04:24

光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后，需要进行检测，来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的，主要包含以下项目。 1功率衰减测试 光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少？

光伏组件

解析：光伏双玻组件特点及发展趋势

来源：索比光伏发布时间：2016-04-08 09:02:51

即便是老化之后的玻璃，绝缘性也非常好。第二，它没有金属边框，相对普通组件来说，它省去了接地的操作，这样可以避免PID(电位诱发衰减)现象的产生。

BIPV

视点：光伏双玻组件特点及发展趋势分析

来源：索比光伏发布时间：2016-04-08 08:56:00

即便是老化之后的玻璃，绝缘性也非常好。第二，它没有金属边框，相对普通组件来说，它省去了接地的操作，这样可以避免PID（电位诱发衰减）现象的产生。

双玻组件

浅析光伏电站中光伏组件衰减问题

来源：索比光伏发布时间：2015-08-31 11:16:07

三、PID光伏组件的电位诱发衰减效应：现代研究者普遍人为这种组件衰减存在于组件内部电路和其接地金属边框之间的高电压会造成组件的功率衰减问，此外电位诱发衰减效应。

浅析光伏电站中光伏组件衰减问题

浅谈光伏组件重要参数

来源：索比光伏发布时间：2014-08-26 10:07:31

2、PID效应（参考何宝华等《晶体硅光伏组件抗PID技术研究》中内容）电位诱发衰减效应（PID，PotentialInducedDegradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流

浅谈光伏组件重要参数

光伏组件一二三：参数、热斑效应和PID效应、运营后检测

来源：索比光伏发布时间：2014-08-26 07:50:27

2、PID效应（参考何宝华等《晶体硅光伏组件抗PID技术研究》中内容）电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃

光伏电站

【独家】浅谈光伏组件关键参数、热斑效应、PID效应和运营后检测【头条】

来源：索比光伏发布时间：2014-08-26 00:00:00

2、PID效应（参考何宝华等《晶体硅光伏组件抗PID技术研究》中内容）电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流

【独家】浅谈光伏组件关键参数、热斑效应、PID效应和运营后检测【头条】

【专栏】太阳能电池接地系统的设计技术

来源：索比光伏发布时间：2014-06-09 00:00:00

晶体硅光伏组件的电位诱发衰减（PID）效应：晶体硅光伏组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压，会造成组件的光伏性能的持续衰减。

【专栏】太阳能电池接地系统的设计技术

HBI创新型钝化炉解决PID 并显著提升转换效率

来源：索比光伏发布时间：2014-05-29 09:06:20

这些引起衰减的机理被称之为电位诱发衰减（Potential Induced Degradation，PID）、极性化、电解腐蚀和电化学腐蚀。　　
过去几年的研究表明，存在于晶体硅光伏组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压，会造成组件的光伏性能的持续衰减。

钝化炉

英利多晶系列组件通过TUV南德意志集团PID测试

来源：索比光伏发布时间：2013-01-04 14:23:35

英利

松下HIT组件完成第三方PID测试

来源：索比光伏发布时间：2012-09-21 15:42:00

近日，松下公司也加入了声明旗下产品不受电位诱发衰减（potential induced degradation，PID）影响的光伏组件生产商阵营。
公司内部和第三方的测试都证明了在HIT电池中，表面是透明导电层，并且没有隔热层，这一点并不像传统的晶体硅电池一样，测试结果是没有衰减发生。

光伏

光伏企业动态每日速览（第三十五期）

来源：索比光伏发布时间：2012-08-08 08:34:00

据了解，一些光伏电站实际使用中表明，由于组件带电部分和接地边框或接地外部之间的潜在高电压可以导致组件退化，退化受多种机制影响，这些退化机制包含电位诱发衰减、极化、电解腐蚀、电化学腐蚀。

光伏

晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)(三)

来源：索比光伏发布时间：2012-05-14 10:23:15

索比光伏网讯:本文主要了解，晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)之实验室对晶体硅光伏组件的PID测试和评估目前在国际电工委员会(IEC)层面上，还没有出台有关实验室进行PID测试和评估的正式标准，该测试和评估的正式标准

晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)(三)