光伏咨询搜索-索比光伏网

直拉法硅片，集成正反面钝化及反光衰等先进的工业钝化发射极触点电池技术。在多晶PERC上，2015年11月，天合光能大面积P型多晶硅PERC太阳电池光电转换率达到21.25%，创造了新的世界纪录
，实现了双面受光、双面发电，背面功率与正面功率相比不低于75%，产品背面可带来最高25%的发电量增益。Hi-MO2首年光衰可低于2%，平均年衰减低于0.45%，均优于常规组件。此外，2017年11月

，在基底中捕获电子形成复合中心，从而导致3~4%的功率衰减，即使采用氢钝化等技术也无法完全消除光衰;而N型双面则与PERC双面不同，基底掺磷，没有硼氧对形成复合中心的损失，使得电池几乎无光
双面通过了严于常规IEC标准测试6倍的抗PID测试和严于常规IEC标准测试4倍的湿热老化测试。在抗PID、抗湿热性能方面，有着超强的能力。另外，自清洁性等特点也是吸引N型双面技术投资者们的优势所在

(LID) P型晶硅电池普遍存在光致衰减的问题，而叠加PERC技术后衰减问题更甚，尤其是多晶PERC，目前导致光致衰减的机理尚不清楚。单晶PERC光衰要高于单晶BSF电池，单晶PERC的光衰主要与电池

，也有可能是电池生产工艺的问题。对电池生产线上出现的黑斑片与正常片做光衰实验对比，发现两组电池的衰减基本都在允许范围内，说明黑斑片的产生与硅片材料质量无关。通常硅片中容易出现黑芯片，黑芯片呈现圈形
太阳电池片及组件存在的隐性缺陷。由于电池片中有缺陷区域没有发出红外光，故在EL图像中呈现黑斑。 3 结果与讨论 3.1EL黑斑通过EL测试，我们选出效率为19.15%和19.37%两个档位的黑斑片

工艺的问题。对电池生产线上出现的黑斑片与正常片做光衰实验对比，发现两组电池的衰减基本都在允许范围内，说明黑斑片的产生与硅片材料质量无关。通常硅片中容易出现“黑芯片”，“黑芯片”呈现圈形年轮状，其
太阳电池片及组件存在的隐性缺陷。由于电池片中有缺陷区域没有发出红外光，故在EL图像中呈现“黑斑”。结果与讨论 EL黑斑通过EL测试，我们选出效率为19.15%和19.37%两个档位的黑斑片

侵蚀，增强抗隐裂、蜗牛纹和腐蚀能力。此外，低光衰和严苛的ATLAS稳态光照测试，保证了每一批组件光致衰减性能优异。不断创新变革，是大海光伏始终保持长青的秘诀之一。新阶段半片电池组件
策划/刘思哲(微信公众号：光伏头条) 5月28日-30日，2018SNEC展在上海盛大开幕。千余家光伏企业共襄盛会，带来了全球范围内最前瞻的技术产品，最专业的管理理念以及最权威的行业报告

，也有可能是电池生产工艺的问题。对电池生产线上出现的黑斑片与正常片做光衰实验对比，发现两组电池的衰减基本都在允许范围内，说明黑斑片的产生与硅片材料质量无关。通常硅片中容易出现黑芯片，黑芯片呈现圈形
太阳电池片及组件存在的隐性缺陷。由于电池片中有缺陷区域没有发出红外光，故在EL图像中呈现黑斑。 3 结果与讨论 3.1EL黑斑通过EL测试，我们选出效率为19.15%和19.37%两个档位的