阿特斯低碳组件：低衰减，高收益，30年发电更可靠

来源：阿特斯阳光电力集团发布时间：2025-09-25 09:34:42

光伏电站的全生命周期长达25-30年，组件的可靠性与年衰减率直接决定了系统的长期发电收益。更高的可靠性意味着更低的运维成本，更低的衰减则保障了电站持续25-30年的稳定收益。

阿特斯，凭借创新材料与结构设计，实现首年衰减低于1%，年均衰减低于0.3%，并享有30年功率质保和15年优异的产品材料和工艺质保，在低衰减、高可靠方面表现卓越，成为电站长期稳定运行的绿色守护者。

光伏组件面临的可靠性挑战：

光伏组件常年暴露于高温、高湿、紫外线、风沙、盐雾等复杂环境中，同时还面临PID（系统高电压诱发的电势诱导衰减）、材料老化、机械应力等多重考验，这些都直接影响发电性能与系统寿命。

阿特斯新一代低碳组件如何实现超低衰减与高可靠？

1. 优异的抗PID性能

HJT电池表面沉积有TCO（Transparent Conductive Oxides，透明导电氧化物）薄膜，无绝缘层，从根本上避免电荷聚积，抑制PID现象的发生。在PID 288小时测试后，衰减平均值仅为1.3%。

2. 低LeTID，无BO-LID

阿特斯低碳组件采用N型硅片掺磷工艺，消除了硼氧复合体，从根本上杜绝了LID( Light Induced Degradation，光致衰减)；非晶硅层在低温（<250°C）下沉积，规避高温工艺；且HJT电池结构不存在典型LeTID机制。

通过严格选材、先进的电池制作工艺以及光注入退火提效抗衰减工艺，阿特斯低碳组件在LID 200小时测试后衰减平均值仅为0.5%，LeTID 324小时测试后无衰减，展现出卓越的抗衰减性能，为低碳发电的稳定性保驾护航。

术语说明：

LeTID：Light elevated Temperature Induce Degradation，光热诱导衰减。

BO-LID：Boron-Oxygen related light-induced degradation，光致衰减。

3. 优异的抗湿热老化性能

阿特斯低碳组件采用双玻双EPE结构，有效阻隔水汽到达电池表面；低酸胶膜减少酸性物质释放，耐腐蚀浆料改善接触，这些创新措施加强了组件的抗湿热老化性能。在DH 3000小时测试后，衰减值仅为3.4%，远优于IEC标准要求的衰减值，确保组件在潮湿环境中依然能够稳定发电。

术语说明：

DH：Damp Heat，湿热，又称高温高湿试验。

4. 卓越的抗紫外性能

阿特斯低碳组件采用双UV转光胶膜，将组件正反面紫外光线转化为可吸收的蓝光，既降低了组件紫外衰减，又增加了组件功率。

同时，通过优化非晶硅钝化层，进一步提升了HJT电池的抗UV性能。在UV 180kWh/m²测试后，衰减值仅为2.2%，这一出色表现，让组件在紫外线强烈的环境中也能保持高效发电，为低碳能源的稳定输出提供有力支持。

术语说明：

UV：Ultraviolet，紫外。

5. 低温度系数与双面对称结构

HJT电池采用非晶硅/晶硅异质结，具有低温度系数以及双面发电结构。其功率温度系数低至-0.24%/°C，显著优于PERC（约-0.34%/°C）和BC（约-0.26%/°C）。这意味着在相同高温环境下，HJT组件功率损失更小，发电效率更高。

此外，对称的电池结构和组件结构，使得HJT组件热应力更小，热循环（TC）表现优异，从而间接降低了热斑风险、封装材料老化速度和整体年衰减率，为低碳发电的长期稳定性提供了全方位保障。

实验室加严测试验证高可靠性和低衰减

阿特斯低碳组件在可靠性和低衰减方面的卓越表现，也得到了实验室加严可靠性测试数据验证的验证。

阿特斯低碳组件通过IEC加严可靠性测试，所有测试数据全部低于5%的标准要求，满足极端环境下的长期运行要求，为电站的持久稳定发电提供坚实技术支撑。

术语说明：光伏组件的IEC 加严可靠性测试（通常为IEC可靠性测试标准的3倍）是一种针对光伏组件在极端环境条件下的强化测试方法，旨在验证其长期可靠性和耐久性。该测试基于国际电工委员会（IEC）的标准（如：IEC 61215、IEC 61730），通过增加测试强度或重复次数，模拟组件在更严苛环境中的性能表现，从而确保其在实际应用中的高可靠性。