PID(Potential Induced Degradation)意为电位诱发衰减测试，一些电站实际使用表明，光伏发电系统的系统电压似乎存在对晶体硅电池组件有持续的“电位诱发衰减”效用，基于丝网印刷的晶体硅电池通过封装材料（通常是EVA和玻璃的上表面）对组件边框形成的回路所导致的漏电流，被确认为是引起上述效应的主要原因。近年来PID已经成为国外买家投诉国内组件质量的重要因素之一，严重时候它可以引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个电站的功率输出，国际上已经许多企业对组件的PID现象进行分析。
根据光伏学会柏林股份公司、TUV莱茵和VDE测试机构和认证协会共同的标准，阿特斯的光伏组件加1000V负压，耐久性试验后组件性能仍高于98％以上。阿特斯首席执行官瞿晓铧表示：“测试为我们的客户指引了方向，结果证明我们的产品品质是可以信赖的。”
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