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LeTID
极化测试方法示意图，如下：
-2是关于薄膜组件的PID测试，目前已提交DTS
IEC TS 63342 LETID测试
Light and elevated
temperature induced degradation (LETID) test for c-Si Photovoltaic (PV) modules:Detection
目前是CD阶段，还在整理
)
IEC 63342 晶硅光伏组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp)【鉴衡参编】
IEC 62759-1 光伏组件-包装运输测试 第1部分 组件包装单元的物流与运输
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IEC 63342 晶硅光伏组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试(项目组长Max Kntopp)
目前草案处于DTS准备阶段高温辅助光致衰减(LETID)是导致晶硅光伏
、湿热老化、动态机械载荷、电势诱导衰减PID、光衰LID&LeTID、Pan文件(代表发电能力)以及综合可靠性测试(Thresher Test)，隆基是唯一一家在所有九项加严测试类别中获得全优的
。2021年报告中包含的产品鉴定项目(PQP)测试包括冷热循环600周期、湿热2000小时、机载性能序列(DML+TC50+HF10)，电势诱导衰减(PID)192 小时、LID、LeTID和Pan
照辐射强，时间长，中来计划将N型TOPCon技术应用于如此优渥的地理条件之中。N型组件具有高功率，高转换效率，低LeTID风险，无LID风险，更优双面率和温度系数等优势，能够在高温的极端环境下仍然具有
最高达22.3%。双面率高达85%，相较P型双面率提高约5%-15%。LID和LeTID理论上已接近零光衰，首年衰减低于1%，平均衰减0.4%，TOPCon的高可靠度，可提供客户30年质保，保证30
PERC组件，采用掺镓硅片，有效降低光致衰减(LID)及热辅助光致衰减(LeTID)，并叠加SE激光技术提升电池转换效率。组件搭载行业先进的半片及多主栅电池技术，有效减少阴影遮挡影响，提升组件可靠性并显著
PID、LID、LeTID 等衰减，后期发电能力弱。 3) 预计 2021 年 PERC 扩产潮将达到顶峰、此后各大厂商再扩 PERC 产能意愿有限，更多 精力将用于布局 HJT、TOPCon
的，量产效率实现了从23.5%到24.5%的跨越性提升。其无LID和LETID风险，低温度系数、高可靠性等优势，对进一步降低度电成本提供了有力的保障，度电成本甚至可跟高效PERC电池相媲美。Niwa
做到了年度、季度、月度高频次全方位覆盖，比如隆基PID，LID，LETID等测试均采取每月高频次监控，覆盖所有产品型号和每一套BOM。而针对冰雹、盐雾、防火等业内仅作为导入性评估测试，隆基首创纳入量产
的成果，这个为期三年的项目已经进行了15个月。
一种用UMG硅制成的电池的电致发光图像。
减少LeTID
实现该项目目标的最重要步骤包括等离子体纳米纹理化技术这被称为黑硅，因为它的反射率非常低
研究PERC的光照和高温诱导衰减（LeTID），其范围取决于起始物料。该团队正在初步评估它对UMG的重要性，并在制造过程中引入变化包括电介质中的氢、烧成温度和前向极化来减少它。
