LeTID
方面，相较于P型是硼掺杂晶硅，N型是磷掺杂晶硅，硼含量极少，硼氧对少，改善了光致衰减(LID)和高温光诱导衰减(LETID)，所以相较于P型的首衰2%，N 型仅1%。双面率高得益于N 型电池背面
photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
，使用了阿特斯独创的六大黑核技术：阿特斯超高效电池技术一年三刷世界纪录、 独特的CSAR(注入恢复)电池管控技术使LeTID(光热衰减)降低50%、及半片多主栅电池技术使得电池效率大幅提升;阿特斯
使光伏组件产生较大的输出功率衰减。在高温、高湿的环境下也有可能出现类似LeTID
衰减的现象，目前对 LeTID 衰减主流的测试条件是温度为 75 ℃、测试电流值为 Isc–Impp，但在实验室多次
LeTID
测试后，这些光伏组件并未出现明显的输出功率衰减现象，可能在增加湿度后会更容易产生 LeTID 衰减，因此这一结论还需要更多测试数据的支持。3 结论基于 IEC 61215-2: 2016
热斑温度;2)阿特斯内部严格的红外和漏电流管控技术进一步降低极端热斑风险。图：不同版型热斑温度实测3.独到的LeTID控制技术为应对LeTID-热辅助光致衰减(其是在较高温度和光照复合作用下的衰减机理
)，阿特斯通过硅片端杂质和掺杂剂的管控和电池片生产工艺的优化、电池和组件端严苛的CID日常监测要求，将组件的LeTID衰减降低50%以上，平均衰减控制在0.4%左右。图：阿特斯LeTID内部管控措施2022
PERC电池而言，n型TOPCon电池的一个主要材料优势是降解率较低，因为其对光诱导降解(LID)、光及高温诱导降解(LeTID)的敏感性出现下降。其他优势包括更高的双面系数以及在低光照和高温条件下的
版本的单晶PERC组件在稳定性方面存在问题，特别是LID问题，在极少数情况下，存在LeTID问题。这些意想不到的单晶PERC衰减模式表明了早期的新技术采用者所面临的性能风险。虽然n型TOPCon光伏电池
可靠性和更低的 LID/LETID 衰减，而且价格也比P型电池片便宜、性价比更高，N型电池片组件将引领光伏行业新的潮流。与此同时，论坛现场还隆重发布了“2022中国光伏百强品牌价值榜”，秦能光电凭借
192hrs)、户外曝晒(Field Exposure 6 Months×2)、光热诱导衰减测试(LeTID 162hrs×3 )等多项加严测试。晶澳组件在测试中的表现出色，并七次获评PVEL
发电保证。03、DuDrive Max 极黑DuDrive Max极黑单玻系列是一款为高端户用市场打造定制化产品。它以优异的低LeTID性能以及行业独有的极致深邃外观赢得了众多户用客户的青睐，是一款
。LETID(热辅助光致衰减)是晶体硅电池在较高温度和光照条件下面临的一种衰减模式，在P型单多晶电池和N型电池中都会发生。本标准的制订有助于快速判断晶体硅电池的LETID风险，评估抗LeTID工艺措施的有效性
