EL缺陷
电池片碎裂。由于整块组件是电池片串联结构，碎裂的电池片会影响整块组件的发电量。因此，层压后的组件如果有碎裂的电池片必须进行更换，即返修，才能正常使用。
在太阳能电池组件返修过程中会使用 EL
测试仪，又叫做电致发光测试仪，可以清楚地显示组件中的裂片(包括隐裂和显裂)、劣片及焊接缺陷;进而改进工艺，提高组件质量，赢得长远利益。被认为是太阳能电池生产线的眼睛;可以及时发现生产中存在的问题，及时排除
近日，中国科学院上海微系统与信息技术研究所成功采购了陕西众森高端EL缺陷检测仪(型号：GEL-M10)作为他们的检验设备。中科院作为全球领先的研究机构与国家权威的实验室，在众多国内外厂商中而选用
陕西众森的设备,再次证明了陕西众森的设备已经达到世界领先水平。
GEL-M10缺陷检测仪
中国科学院上海微系统与信息技术研究所是中国最早的工学研究机构之一，至今已有80多年历史。中国第一颗具有
行业所公认，但在组件和电池片两个方面组件产生PID现象的机理尚不明确，相应的进一步提升组件的抗PID性能的措施仍不清楚。
3电池片隐裂隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生
时候，肯定存在误差。
另外，很多组件出场可能就是-3%的功率偏差，还没衰减，3%就直接没了
2EL测试当光伏组件出现问题时，局部电阻升高，该区域温度就会升高。EL测试仪就像我们体检中的X光机一样
大系列二十余种产品。为满足行业技术迅速发展与客户对电池的更高要求，每年都会陆续推出新品,如今年推出的《高效太阳能模拟器测试仪》、《高像素EL缺陷检测仪》等，一推出就受到天合、东方日升、印度Tata
产业发展付有付出卓越贡献的重要企业。
此次在众多入围企业中，陕西众森的设备的获得了专家评委的高度认可与赞美。陕西众森经过十六年的持续发展，目前已形成太阳模拟器、太阳电池缺陷检测仪、太阳电池组件生产线三
客户对电池的更高要求，每年都会陆续推出新品,如今年推出的《高效太阳能模拟器测试仪》、《高像素EL缺陷检测仪》等，一推出就受到天合、东方日升、印度Tata、昱辉、中利腾辉等国内外光伏测试各大厂家的青睐
连续三年被主办方和业界专家学者评为优秀光伏设备供应商。
经过十六年的持续发展，陕西众森目前已形成太阳模拟器、太阳电池缺陷检测仪、太阳电池组件生产线三大系列二十余种产品。为满足行业技术迅速发展与
上海太阳能工程技术研究中心HS1610C热斑耐久试验装置;光照前后的电池性能参数测量采用德国H.A.L.M高精度I-V测量系统;采用中导光电设备有限公司的FL-01一体机进行硅片的光致发光(PL)和电池的电致发光(EL
浓度最高;顶部最后凝固，O浓度最低。MC-Si相比较CZ-Si晶界以及缺陷较多，针对缺陷是否会造成LID的差异这一问题，我们进行了研究，结果表明，缺陷对LID影响不大。这与王朋等对关于MC-Si中缺陷
(PL)和电池的电致发光(EL)测量。
2.2试验样品及处理
样品采集相同电阻率(1～3)的铸锭多晶硅(MC-Si)及直拉单晶硅(CZ-Si)，测试其原料硅片各项参数并作相应记录;然后将样品经过相同
关系，称之为轴向O曲线。而对于MC-Si来说，底部先凝固，O浓度最高;顶部最后凝固，O浓度最低。
MC-Si相比较CZ-Si晶界以及缺陷较多，针对缺陷是否会造成LID的差异这一问题，我们进行了
索比光伏网讯:1、什么是隐裂？隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂（据西安交大杨宏老师的资料，仅电池生产
，可能会产生效率损失，但不必谈隐裂色变。3、检测隐裂的手段EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励
显示出来，EL图像的亮度正比于电池片的少数载流子扩散长度与电流密度。存在缺陷的地方，少子扩散长度较低，所以显示出来的图像较暗。因此可以通过测试图像的明暗来判断组件的质量问题。整个测试过程需要在黑暗环境中进行。下图为EL下的线性隐裂：下图为EL下片状隐裂：下图为EL下组件缺角：
电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，代表该处存在缺陷(复合中心);如果有的区域完全是暗的，代表该处
