组件功率衰减

质量问题频发，发电量达不到预期。 据了解，国内有些设备商在质量的把控上并不能完全达到要求。最常见的是组件电性能衰减，组件衰减超过了标准和技术协议要求的衰减值。按照唐金平的经验，在造成组件功率衰减的问题

导致国内光伏电站质量问题频发，发电量达不到预期。据了解，国内有些设备商在质量的把控上并不能完全达到要求。最常见的是组件电性能衰减，组件衰减超过了标准和技术协议要求的衰减值。按照唐金平的经验，在造成组件功率

质量问题频发，发电量达不到预期。据了解，国内有些设备商在质量的把控上并不能完全达到要求。最常见的是组件电性能衰减，组件衰减超过了标准和技术协议要求的衰减值。按照唐金平的经验，在造成组件功率衰减的问题中，组件

认可实验室, 同时也是CQC、CGC的签约实验室。CTC能从事光伏产品认证，已经开展了光伏组件和材料认证、自然环境条件下组件功率年衰减率等差异化认证服务，认证结果得到工信部等相关单位的采信。CTC具有

计算公式为：组件功率损失=（理论功率-实际功率）/理论功率。通常我们使用组件输出功率与电池片功率总和的百分比（Cell To Module简称CTM值）表示组件功率损失的程度，CTM值越高表示组件封装功率
损耗，组件温度升高会引起的输出功率下降。E.B-O复合引起的电池片效率衰减，与本征衰退损失。F.组件生产过程中产生隐裂或碎片。影响单晶和多晶组件CTM差异的因素主要包括2个方面，光学损耗和硼氧复合损耗

：组件功率损失=(理论功率-实际功率)/理论功率。通常我们使用组件输出功率与电池片功率总和的百分比(Cell To Module简称CTM值)表示组件功率损失的程度，CTM值越高表示组件封装功率损失的程度越小
会引起的输出功率下降。E.B-O复合引起的电池片效率衰减，与本征衰退损失。F.组件生产过程中产生隐裂或碎片。影响单晶和多晶组件CTM差异的因素主要包括2个方面，光学损耗和硼氧复合损耗。光学损耗产生的

成正相关。其中常见开裂，外观变黄，风沙磨损，热斑，组件老化都可以加速组件功率衰减。3）PID电势能诱导衰减。这种衰减存在于组件内部电路和其接地金属边框之间的高电压会造成组件的功率衰减，还与玻璃、背板

就较单晶低0.5%，同样功率组件，多晶寿命周期内保障的发电量就高于单晶。LID衰减实测：单晶初始LID光率较多晶高1.0%，光衰后单晶组件功率与标称功率差距显著大于多晶，导致单晶出厂后经光衰导致的
一、多晶 vs 单晶多晶的优势LID衰减LID(Light Induced Degradation)：即光致功率衰减，一般组件运行初始阶段LID较高，之后随电池片硼氧复合体的逐年平稳下降，但理论数据