氧化铝(AlOx)。其不但像SiNx一样可以钝化表面缺陷,还拥有与SiNx相反的负电荷,正是因为这一点,在p型硅背面使用AlOx钝化层,不但不会形成反转层造成漏电,反而会增加p型硅中多子浓度,降低少子浓度
或者380V电压,如果没有,依次检测接线端子是否有松动,交流开关是否闭合,漏电保护开关是否断开。
2.3、PV过压:
故障分析:直流电压过高报警
可能原因:组件串联数量过多,造成电压超过逆变器的
件电线对地的电阻,找出问题点,并更换。
2.5、漏电流故障:
故障分析:漏电流太大。
解决办法:取下PV阵列输入端,然后检查外围的AC电网。
直流端和交流端全部断开,让逆变器停电30分钟以上,如果
*6mm2交流电缆到光伏配电箱。 3)考虑到户外太阳照射、雨雪天气长久耐用,并选用过欠压脱扣器、漏电保护器、防雷浪涌等电器件。电器件接线都为经过电工培训具备上岗资格的专业人员。 四
随着新能源的不断发展,晶硅组件的应用也越来越广泛,但是组件长期在高电压作用下,会出现PID的风险:玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量的电荷聚集在 电池片表面,使得电池板表面的钝化效果恶化,导致FF
程度,也与上述衰减现象的发生有关。到目前为止,形成机理还不是太明确,推测来自于钠钙玻璃的金属离子是形成上述具有PID效应的漏电流的主要载流介质。
内部可能原因:
1:系统方面:逆变器接地方式和组件在
衰减的反应。由于组件长期在高电压作用下使得玻璃,封装材料之间存在漏电流,大量的电荷聚集在电池片表面,使得电池板表面的钝化效果恶化,导致FF, Isc, Voc降低,使组件性能低于设计标准。美国NREL
原因达成定论,主要在于其诱发因素的多元性及复杂性。因此组件厂商在应对PID效应时,公认的研究方向:(1)采用非Na、Ca玻璃提高玻璃的体电阻,阻断漏电流通路的形成;(2)采用非乙烯醋酸乙烯共聚物的封装
长时间侵泡在水中,加速电缆老化并存在漏电风险。 图5 图6 如图5所示:该电站由于对现场运维人员的培训欠缺,现场人员在组件表面晾晒菜干和鱼干,影响发电量的同时加速组件的衰减
无人清理。电缆长时间侵泡在水中,加速电缆老化并存在漏电风险。 图5 图6 如图5所示:该电站由于对现场运维人员的培训欠缺,现场人员在组件表面晾晒菜干和鱼干,影响发电量
水中,加速电缆老化并存在漏电风险。 图5 图6如图5所示:该电站由于对现场运维人员的培训欠缺,现场人员在组件表面晾晒菜干和鱼干,影响发电量的同时加速组件的衰减。如图6所示:该电站由于运维不足导致组件
衰减严重,为了保证收益,必须进行PID防护。同时在这种高湿的情况下电池支架和组件漏电的可能性大大增强,人在坐在船上或站在潮湿的地面上对地阻抗很小,若维护人员不小心触碰到漏电部位,就会直接造成人员电击
而使其性能降低。这种效应表现在玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,导致电池片的钝化,致使电池片的开路电压、短路电流和填充因子降低,EL拍摄图像显示黑斑等不良现象。PID现象严重时会