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建成后往往存在质量缺陷，而运维标准的长期缺失，又使得光伏设备管理处于粗放模式。加之当时的技术局限以及行业更迭，组件PID效应、热斑、设备厂家退出无法提供售后服务等都在拉低存量光伏电站的系统效率，杨忠绪

热斑;水面安装组件，由于长期在高温高湿环境下，极易产生PID失效，引起发电量损失;接线盒渗入水汽导致低绝缘电阻及短路失效;接线盒、汇流条被腐蚀产生较大功率衰减等。总之，复杂的水面环境会导致光伏组件各种
电池设计，1500V系统电压;配备拥有GCL自主专利的超防水接线盒;并且成功通过严酷的高温浸泡PID试验与6个月盐水浸泡试验。该款组件采用高阻水材料封装，并采用圆边密封保护。接线盒采取四级防水设计

-电势诱导衰减测试方法第2部分：薄膜组件目前状态：DTS准备中。针对薄膜组件的PID测试，提出了环境箱和户外测试相结合的方法，其中环境箱测试可以选择无辐照不通电的条件或者加光照及通电流的条件
光伏组件-电势诱导衰减测试方法第1部分：晶硅组件针对晶硅组件的PID测试IEC TS 82804-1也做了几点更新：- 增加了PID极化测试 (PID-p) 的要求- PID恢复测试条件更新- 一些

定义电气端子，哪些是接线盒标准IEC 62790没有考虑到的精简目前给出的材料组合测试方案完善薄膜组件部分的重测导则 IEC 62804 PID测试 -1是关于晶硅组件的PID测试，增加了
PID恢复测试，出发点和IEC 61215新版标准中一致，也是为了规避极化现象的影响。但是在现场确实也有发现计划现象，标准增加了相应的极化测试，在常规PID测试条件基础上，增加额外的低辐照度。项目组

Hacke) 目前草案处于DTS准备阶段此标准是针对薄膜光伏组件的PID衰减的测试方法。标准包括了一种室内和室外测试结合的方法，通过室内测试组件的电荷转移与衰减以及现场组件的转移来确定在现场组件的衰减
项目组长Peter Hacke在会议上介绍了一种仅在室外利用升高系统电压的加速测试方法，以及近期做出的修改。另外，Peter 还介绍了IEC TS 62804-1的ED2版本准备新加入PID恢复

前往观看，腾晖光伏带来的麒麟系列等高效组件尤其受到关注。展台上亮相的就是基于182mm大尺寸硅片的麒麟组件，组件功率可达590W，延续了麒麟系列高功率、抗PID、抗隐裂、载荷性能优异
的特性。该产品基于M10掺镓单晶硅片，叠加了MBB多主栅技术，降低内部损耗，提升抗隐裂能力和抗PID性能，首年衰减仅2%，此后每年衰减不超过0.45-0.55%。此款麒麟组件进一步提升了光伏组件的效率

、强度、安全、耐候等性能。对常见的边框附件，我们一般要考虑该附件是否会影响到组件的发电性能(发电功率、抗PID衰减等)、机械强度、阻燃及防火性能、耐腐蚀性能。比如说： - 是否会对组件表面形成遮挡
、安全性能光伏组件都需要进行绝缘性能测试、接地连续性测试、抗PID性能测试，还需要做阻燃等级测试、湿热老化测试等。所谓组件绝缘测试，是将组件正负极短路后连接到绝缘耐压仪的正极，再将边框接地孔接到