62804 ED2光伏(PV)组件电势诱导衰减的测试方法:第1部分晶体硅,第2部分薄膜此项议题由来自NREL的Peter
Hacke博士做为项目组长做出汇报,介绍了在第二版中的更新和拓展了PID测试方法 Part 2: Thin film, Ed 2, Peter Hacke会议上针对IEC TS
62804-2,概述了对薄膜光伏组件的PID检测方法,提出了户外PID测试作为实验室PID测试的有用替代
以高容性特点著称,伴随着更加优异的钝化工艺、薄膜与晶硅的界面结构、封装材料、截止膜和光转膜的引入,为组件在STC条件下功率测试、可靠性测试技术带来了新的挑战。继前段时间由东方日升和KIWA PI 箱环境中产生的亚稳态问题,着重描述了光照LID和电注入B-O
LID的激活方法,进而解决组件功率测试偏差的问题。熊老师也同时提出了建设标准的光伏电站计量实证平台,结合产品特性和市场反馈设计针对性的