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。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。EL检测仪能够检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。组件
。 18 接线盒硅胶不固化 1.硅胶配比不符合工艺要求造成硅胶不固化。 2.出胶孔A或B胶孔堵住未出胶造成不固化。组件影响 1.硅胶不固化胶会从线盒缝隙边缘流出，盒内引线会暴露在空气中遇雨

诱导电流测量了每个电池的外量子效率(eqe)。在460～1000nm波长范围内，同一电池片黑斑处与正常处的eqe相差较大，说明黑斑的出现与原生硅片缺陷无关，应归结于电池片生产过程中引入的杂质缺陷。给出
发电成本的主要途径。目前，国内外对于电池的隐裂、断栅、裂片等失效分析进行过深入的研究，然而对于黑斑片却鲜有报道。在p型晶硅电池的大规模生产中，电池的检验常用电致发光(EL)检测仪，根据硅材料的

电流测量了每个电池的外量子效率(eqe)。在460～1000nm波长范围内，同一电池片黑斑处与正常处的eqe相差较大，说明黑斑的出现与原生硅片缺陷无关，应归结于电池片生产过程中引入的杂质缺陷。给出
。目前，国内外对于电池的隐裂、断栅、裂片等失效分析进行过深入的研究，然而对于黑斑片却鲜有报道。在p型晶硅电池的大规模生产中，电池的检验常用电致发光(EL)检测仪，根据硅材料的电致发光原理对组件进行

诱导电流测量了每个电池的外量子效率(eqe)。在460～1000nm波长范围内，同一电池片黑斑处与正常处的eqe相差较大，说明黑斑的出现与原生硅片缺陷无关，应归结于电池片生产过程中引入的杂质缺陷。给出
发电成本的主要途径。目前，国内外对于电池的隐裂、断栅、裂片等失效分析进行过深入的研究，然而对于黑斑片却鲜有报道。在p型晶硅电池的大规模生产中，电池的检验常用电致发光(EL)检测仪，根据硅材料的

磷硅玻璃的目的是为了去除硅片表面形成的磷硅玻璃。采用CT管式PECVD炉在硅片表面形成氮化硅减反射膜，同时掺杂H元素，使缺陷减少，还可以保护硅片。丝网印刷是将含有金属的导电浆料透过丝网网孔压印在晶硅
太阳能电池两面形成电路或电极。方阻测试仪:四探针方阻仪(GP4-TEST)测量扩散后的方阻值; 光学显微镜:测量丝网印刷后硅片的栅线宽度; 太阳能电池检测仪(BERGERLichttechnik

着重研究直拉单晶硅电池及铸锭多晶硅电池衰减的差异，以及导致差异形成的原因。结果表明，该差异的形成主要受B-O 复合体、碳含量、分凝系数及金属离子的影响。引言太阳电池和发电技术的大面积推广，对传
方式对LID值的影响。1LID的影响因素影响LID的因素为：1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一，LID值与B浓度成正比，与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳(C)含量。高浓度的

着重研究直拉单晶硅电池及铸锭多晶硅电池衰减的差异，以及导致差异形成的原因。结果表明，该差异的形成主要受B-O 复合体、碳含量、分凝系数及金属离子的影响。引言太阳电池和发电技术的大面积推广
晶体生长方式对LID值的影响。 1LID的影响因素影响LID的因素为：1)硼氧(B-O)复合体。B-O复合体是影响LID的主要因素之一，LID值与B浓度成正比，与O浓度平方成正比。2)晶体内部碳

索比光伏网讯:随着光伏产业竞争的不断加剧，客户对电池片质量的要求越来越高。为了增强对电池片内部缺陷的检验，EL检测仪的配置变得越来越重要，但购买一台测试仪需要5-6万元，为节约这笔费用，光伏集团电池
不同模块进行了讨论分析，最终选用STC89C52单片机作为脉冲发生模块，B班团队利用所学的单片机知识进行了编程调试，最终实现了电机带限位保护的上下移动；整个测试仪配电箱中有3个开关电源、1个电机驱动器