Zen Villanueva认为对于光谱适配,使用等级A的光谱适配并不意味光谱失配影响一定小于等级B或等级C,但是会给测试实验室带来50-100万美元的额外投资负担。 项目组已经针对评论做出以下相应修改:
定义LETID 作为标准术语; 同意加速测试条件:组件达到达到75C后可直接注入电流; 修订对测试过程以及B-O LID 预处理的描述; 对各章节进行了更详细的描述
IEC 63342 晶硅光伏(PV)组件的高温辅助光致衰减(LETID)测试:检测 (项目组长:Max B. 进行了统一
修订:绝缘协调(章节5.6.3),固体绝缘厚度(5.6.4)
表3和表4进行了简化:a) 移除了与污染等级3相关的部分,因为通过了IEC61730-2要求的组件已经不适用此污染等级
b)