EVA

、玻璃、背板、EVA、铝边框、焊带、接线盒、硅胶等，其他成本主要有人工成本和折旧成本。其中电池片成本占总成本比例为65%左右，是组件成本的最重要的组成部分。组件的降本途径主要是通过提升单位面积内的功率来实现，比如现在比较普及的半片组件、叠片组件和双面组件等。

显得尤为重要。 根据《61215:2005重测导则》无论硅片厚度变化、电池片用浆料变化，还是组件用背板、EVA等变化，均需要进行对应项目的重新检定，以保证产品质量。 如此频繁的变更，全部依靠第三方

厚度变化、电池片用浆料变化，还是组件用背板、EVA等变化，均需要进行对应项目的重新检定，以保证产品质量。如此频繁的变更，全部依靠第三方测试是不可能的，再加上一般企业自身并没有系统的测试手段，这些检查漏洞

。 根据《61215:2005重测导则》无论硅片厚度变化、电池片用浆料变化，还是组件用背板、EVA等变化，均需要进行对应项目的重新检定，以保证产品质量。 如此频繁的变更，全部依靠第三方测试是不可能

工艺影响。 2)封装材料老化造成的衰减，主要受组件生产工艺、封装材料以及使用地的环境影响。紫外线照射是导致主材性能退化的重要原因。紫外线的长期照射，使得EVA及背板(TPE结构)发生老化变黄现象
，导致组件透过率下降，从而引起功率下降。除此之外，开裂、热斑、风沙磨损等都是加速组件功率衰减的常见因素。 这就要求组件厂商在选择EVA及背板时，必须严格把关，以减小因辅材老化引起的组件功率衰减。 三

》无论硅片厚度变化、电池片用浆料变化，还是组件用背板、EVA等变化，均需要进行对应项目的重新检定，以保证产品质量。如此频繁的变更，全部依靠第三方测试是不可能的，再加上一般企业自身并没有系统的测试手段，这些

以各种角度照射到组件表面的，垂直的情况只是其中极小的一部分。这就是问题的根源：入射角度。 光从空气中入射到玻璃、EVA以后才能到达电池片表面，这个过程中光从光疏介质进入到光密介质，如图1所示。在这

老化测试，分别测试其DH1000h、DH2000h、UV120Kw和UV210Kw（紫外灯照射背板的EVA面）老化后的黄变，通过黄变来考察其耐老化性能，测试结果显示其△b均不超过4。 除此以外，舒耀
材料。玻璃的透水性虽然可以忽略不计，但是在两块玻璃之间还是存在着水汽透过率，相对于传统EVA，POE具有低水透、高体阻、无醋酸气体释放和优异的抗PID，防湿漏电特性，水汽透过率仅是EVA的十分之一。当然

问题的发生呢?这就需要好好擦亮眼睛，辨别产品了。 1、看组件 问题： 色差、气泡、EVA脱层、热斑、隐裂，低劣的组件质量会影响功率，减少使用寿命，甚至会让你的前期投资全部打水漂

与EVA间出现脱层，或表面有异物，都会产生热斑效应，使组件功率衰减。 3、背板凹坑 背板凹坑会造成电池片隐裂，缩短组件寿命。 4、接线盒 接线盒瑕疵，不合格，老化，后期