组件老化测试

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光伏电站建设“背后”:隐裂的材料风险来源: 发布时间:2013-10-31 10:35:27

;2)综合老化测试,对背板材料同时进行紫外与温湿度多应力老化,更接近户外实际老化过程,使材料老化不光停留在材料表面;3)序列老化测试,如组件背面的紫外曝晒再冷热循环,可以更好模拟背板在户外老化后耐受昼夜

杜邦马可:光伏产品材料的重要性来源: 发布时间:2013-08-27 14:11:15

,这是我们做的一些测算,从投资的角度来看,如果适度使用连线,在五年内,只有五年的话,因为我们现在有一个全球的户外组件项目,在全球各个地方去看,户外实际使用组件出现了一些问题,尤其是组件,他的实效基本

马可:光伏产品材料的重要性来源:搜狐绿色 发布时间:2013-08-26 23:59:59

,这是我们做的一些测算,从投资的角度来看,如果适度使用连线,在五年内,只有五年的话,因为我们现在有一个全球的户外组件项目,在全球各个地方去看,户外实际使用组件出现了一些问题,尤其是组件,他的实效基本

抗PID级别EVA胶膜成功通过双85测试来源:老海的光伏技术 发布时间:2013-05-03 13:35:09

海优威抗PID老化级别的EVA胶膜,今天成功通过耐85℃85%湿度老化测试,96小时后衰减仅有-4.06%。测试使用的电池片为未经耐PID处理的常规电池片,表层折射率为2.08,组件制作过程中使用的其他材料均为常规材料。 顾家小人物:恭喜!又一项重大的技术进步!

海优威抗PID型EVA光伏胶膜成功通过双85测试来源: 发布时间:2013-05-03 11:10:52

索比光伏网讯:5月3日,光伏封装材料研发、生产的高科技企业海优威宣布其抗PID型EVA胶膜,已通过耐85℃85%湿度老化测试,并推出PID解决方案。据介绍,海优威技术团队经过不断研究、反复试验筛选
,最终在电池片、系统等其他条件基本不变的情况下,使用海优威的抗PID型EVA胶膜的电池板,有效降低了产品功率的衰减,帮助光伏组件顺利通过相关PID实验。实验表明,在温度65℃/湿度85%/电压1000V

光伏行业技术动态(二.新产品、新材料、新技术)来源: 发布时间:2013-04-09 12:01:10

电池工作的太阳光谱带(从350纳米到1100纳米)范围内可持续产生3%到3.5%的平均透射增益。在一系列模仿PV组件在其生命周期中可能会经受的严酷环境条件的加速老化测试中,SOLARC系列抗反射涂层的
太阳能电池。 6.HyperSolar发布新款微型聚光器组件原型HyperSolar日前完成了新款超薄微型聚光组件的原型设计工作。而此聚光器的商业版与原型相比体积更小、效率更高,将在组件的光子和光学特性测试

年度光伏新产品、新技术、新材料发布来源: 发布时间:2013-04-03 13:54:36

电池工作的太阳光谱带(从350纳米到1100纳米)范围内可持续产生3%到3.5%的平均透射增益。在一系列模仿PV组件在其生命周期中可能会经受的严酷环境条件的加速老化测试中,SOLARC系列抗反射涂层的
太阳能电池。6.HyperSolar发布新款微型聚光器组件原型HyperSolar日前完成了新款超薄微型聚光组件的原型设计工作。而此聚光器的商业版与原型相比体积更小、效率更高,将在组件的光子和光学特性测试

天合光伏产品检测中心成为UL首家光伏领域CTDP实验室来源:索比太阳能光伏网 发布时间:2012-11-16 10:19:19

机构的标准,标志着天合光能具备了全球极高水平的光伏产品测试能力。天合光能高级副总裁兼组件事业部总裁朱治国先生说:与UL的合作再次证明天合光能卓越的研发技术水平和值得信赖的产品质量。通过这次合作
检测中心室内外总测试面积约7200平方米,全面支持从产品认证、材料可靠性测试、高加速老化测试到材料评估与研究等一系列综合测试,测试能力范围全面覆盖IEC61215、IEC61730、UL1703等光伏产品国际

2012中国光伏产业标准发展论坛——(第三单元)来源: 发布时间:2012-11-09 03:08:59

本会场将进行光伏系统和电站标准制定技术研讨会。我们有请中电联标准中心水电及新能源处副处长汪毅先生主持。  第二个我们有请全国太阳能光伏能源系统标委会秘书长刘彦龙先生主持太阳电池和组件标准制定技术研讨会
不同的材料,不同的结构,不同的工艺,包括温湿度控制,材料控制,怎么叠层等等。很多都是降低成本的考虑,那就有一个问题出现了。这么多新的背板能不能符合组件的测试要求。这是来自于阿特拉斯演讲的一张图,上面介绍

文的:“减少光伏产品缺陷的现场监控标准”来源:金融界 发布时间:2012-11-01 23:59:59

开始光伏组件的检测工作。今天我跟大家分享一下减少光伏产品缺陷的现场监控标准。  首先讲到这个问题,我们先讲IEC标准的故事。IEC标准历史是怎么样呢?实际上最早这个标准是由美国人搞的,这个标准是JPL
能够说明组件在实际中应用存活,而且不会导致早期的失效。  如果组件通过了检测,不能说明什么呢?首先我们不能说明这是有25年寿命。那么讲到25年,这是另一个故事了,一句话25年是商业决定,它不是技术的决定