红外
研究成果。在III-V族半导体中，InSb化合物具有最窄禁带宽度、最高电子迁移率、最小有效质量和最大g 因子，是制备高速低功耗电子器件、红外光电子器件及进行自旋电子学研究与拓扑量子计算等前沿物理探索的
纳米之间的绿光、红光/近红外光）以及设备结构的优化。Heliatek的首席技术官MartinPfeiffer博士表示：此次取得的成功是基于我们对新的有机吸收性材料的化学研究。成功的关键得益于我们物理学
绿光、红光/近红外光）以及设备结构的优化。Heliatek的首席技术官Martin Pfeiffer博士表示：此次取得的成功是基于我们对新的有机吸收性材料的化学研究。成功的关键得益于我们物理学和化学
不同吸收材料的多结电池。在这三种材料中，每一种材料都被专门用来富有效率地将波长范围在450 nm至950 nm之间的绿光、红光/近红外光转化为电力。相应的吸收材料分子由Heliatek开发，该公司还为
三种不同吸收材料的多结电池。在这三种材料中，每一种材料都被专门用来富有效率地将波长范围在450 nm至950 nm之间的绿光、红光/近红外光转化为电力。相应的吸收材料分子由Heliatek开发，该公司
红外线热像仪进行检测，红外线热像仪可利用热成像技术，以可见热图显示被测目标温度及其分布。
隐裂形成原因及检测方法
隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常
隐裂。光伏组件在出厂前会进行 EL 成像检测，所使用的仪器为 EL 检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的 CCD 相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。EL 检测仪能够检测
内阻和电池片自身暗电流。热斑耐久试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以表明太阳电池能够在规定的条件下长期使用。热斑检测可采用红外
线热像仪进行检测，红外线热像仪可利用热成像技术，以可见热图显示被测目标温度及其分布。隐裂形成原因及检测方法隐裂是指电池片中出现细小裂纹，电池片的隐裂会加速电池片功率衰减，影响组件的正常使用寿命，同时电池片的
多种业务，克服了电站点多面广、设备多且分散、巡检工作量大的困难。如电站运维人员可借助搭载GPS、红外成像和无线传输设备的无人机，根据设置好的路径准确飞行，对组件进行热成像扫描，从而精确定位有热斑、隐裂
试验是为确定太阳电池组件承受热斑加热效应能力的检测试验。通过合理的时间和过程对太阳电池组件进行检测，用以表明太阳电池能够在规定的条件下长期使用。热斑检测可采用红外线热像仪进行检测，红外线热像仪可利用热
仪器为EL检测仪。该仪器利用晶体硅的电致发光原理，利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。EL检测仪能够检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池
产品进行实时跟踪检查，并监督安装，对电站进行验收与认证；在电站运行过程中，TV莱茵可提供系统效率评估、组件EL图像缺陷检测、安全性能评估、设备故障检查、红外图像检查、一致性检查、尽职调查、功能性检查等
